[发明专利]回转精度测量方法和测量装置

权利要求书

1.一种回转精度测量方法，其特征在于：

采用光轴平行于待测试回转平台转动轴的图像采集装置(14)拍摄待测试回转平台上包含第一特征点(11)和第二特征点(12)的区域；

其中所述第一特征点(11)和所述第二特征点(12)位置不重合；所述方法包括：

在第一时刻拍摄待测试回转平台形成第一图像，在第二时刻拍摄待测试回转平台形成第二图像；

提取所述第一特征点(11)在第一图像的坐标(x₁₁,y₁₁)和在第二图像中的坐标(x₁₂,y₁₂)，以及提取所述第二特征点(12)在第一图像的坐标(x₂₁,y₂₁)和在第二图像中的坐标(x₂₂,y₂₂)；

根据(x₁₁,y₁₁)和(x₂₁,y₂₁)确定第一方位角θ₁；根据(x₁₂,y₁₂)和(x₂₂,y₂₂)确定第二方位角θ₂，所述第一方位角θ₁和所述第二方位角θ₂夹角θ＝θ₂-θ₁；

比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较结果确定待测试回转平台的转动精度。

2.根据权利要求1所述的回转精度测量方法，其特征在于：

θ₁＝arctan(y₂₁-y₁₁)/(x₂₁-x₁₁)，θ₂＝arctan(y₂₂-y₁₂)/(x₂₂-x₁₂)。

3.根据权利要求1所述的回转精度测量方法，其特征在于：

待测试回转平台包括固定部和相对于所述固定部可做俯仰动作的伸出部；

所述第一特征点(11)安装在所述固定部上；所述第二特征点(12)安装在所述伸出部上。