[发明专利]集成电路的时钟控制方法、装置及集成电路有效

专利信息
申请号: 201810496479.0 申请日: 2018-05-22
公开(公告)号: CN110514981B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 高国重;齐子初 申请(专利权)人: 龙芯中科技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100095 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 时钟 控制 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种集成电路的时钟控制方法,其特征在于,所述集成电路包括时钟组,所述时钟组中的每个时钟配置有对应的时钟隔离逻辑模块,所述方法包括:

依据接收到的扫描使能信号,确定各时钟对应的时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态;

若所述时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态为开启状态,则依据所述时钟隔离逻辑模块接收到的扫描测试时钟,生成测试时钟;

依据所述测试时钟进行扫描测试,生成扫描测试向量;

其中,所述时钟组为依据所述集成电路中各时钟的数据路径进行时钟分组得到的,同一时钟组中的各时钟的数据路径互相独立。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述时钟组中的每个时钟还配置有对应的时钟控制信号生成器,所述依据接收到的扫描使能信号,确定各时钟对应的时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态,包括:

当接收到的扫描使能信号是扫描捕获使能信号时,分别基于每个时钟对应的时钟控制信号生成器输出的时钟控制信号,确定每个时钟对应时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于每个时钟对应的时钟控制信号生成器输出的时钟控制信号,确定每个时钟对应时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态,包括:

针对每个时钟,检测所述时钟控制信号的状态值是否为预设的使能状态值;

当所述时钟控制信号的状态值为使能状态值,确定所述时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态为开启状态;

当所述时钟控制信号的状态值为非使能状态信值,确定所述时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态为关闭状态。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定每个时钟对应时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态之前,还包括:

对所述时钟控制信号生成器进行约束,确定各时钟组对应的时钟数据约束关系;

在扫描捕获过程中,依据所述时钟数据约束关系,确定各时钟控制信号生成器输出的时钟控制信号的状态值;

其中,依据所述测试时钟进行扫描测试,生成扫描测试向量,包括:依据所述测试时钟,控制时钟对应的扫描时序逻辑电路进行扫描捕获,得到扫描捕获结果;基于所述扫描捕获结果,生成扫描测试向量。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述依据接收到的扫描使能信号,确定各时钟对应的时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态,包括:当接收到的扫描使能信号是扫描移位使能信号时,确定各时钟对应的时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态为开启状态;

所述依据所述测试时钟进行扫描测试,生成扫描测试向量,包括:依据所述测试时钟,控制各时钟内部的扫描链进行扫描移位,得到扫描移位结果;基于所述扫描移位结果,生成扫描测试向量。

6.一种集成电路的时钟控制装置,其特征在于,所述集成电路包括时钟组,所述时钟组中的每个时钟配置有对应的时钟隔离逻辑模块,所述时钟控制装置用于执行如方法权利要求1-5任一所述的集成电路的时钟控制方法。

7.一种集成电路,其特征在于,所述集成电路包含时钟组,所述时钟组中的每个时钟配置有对应的时钟隔离逻辑模块和扫描测试逻辑模块;

所述集成电路依据接收的扫描使能信号,确定各时钟对应的时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态;

当所述时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态为开启状态时,所述时钟隔离逻辑模块依据接收到扫描测试时钟生成测试时钟,并所述测试时钟传输给对应时钟的扫描测试逻辑模块;

所述扫描测试逻辑模块依据所述测试时钟进行扫描测试,生成扫描测试向量;

其中,所述时钟组为依据所述集成电路中各时钟的数据路径进行时钟分组得到的,同一时钟组中的各时钟的数据路径互相独立。

8.根据权利要求7所述的集成电路,其特征在于,所述时钟组中的每个时钟还配置有对应的时钟控制信号生成器;

在接收到的扫描使能信号是扫描捕获使能信号时,所述集成电路针对每一个时钟,将所述时钟控制信号生成器输出的时钟控制信号传输给对应时钟隔离逻辑模块,以确定出所述时钟隔离逻辑模块的测试时钟状态。

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