[发明专利]一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置

说明书

本发明涉及相位测量领域，公开了一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置，通过获取被测射频信号；将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频，并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值；根据所述被测射频信号的待测频点，获取扫频本振信号；对所述扫频本振信号进行变频处理，并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值；根据所述第二相位值，消除扫频本振信号相位随机干扰，以获得所述待测频点的相位值。本发明通过对本振信号进行变频处理，在特定频点上进行相位测量获得本振相位在扫频过程中的随机变化量，以此修正中频相位测量结果。

技术领域

本发明涉及相位测量领域，尤其涉及一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置。

背景技术

针对射频微波信号的测量方法普遍基于下变频(down-conversion)技术，通过被测信号与本振信号的混频，将较高频的被测信号频率成分转换到较低频(中频)进行测量。该测量方法的技术瓶颈在于无法有效控制本振信号在“扫频”过程中的相位，导致中频测量的相位信息包含本振引入的随机分量，使得相位谱测量结果呈现随机跳变。因此，基于下变频的频谱分析仪只能测量幅度谱，无法给出相位谱信息；而现有技术中，非线性矢量网络分析仪NVNA必须引入额外的相位参考信号，通过被测信号与参考信号的比值测量(即相位差测量)获得稳定的相位谱测量结果。

发明内容

本发明提供一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置，解决现有技术中中频测量的相位信息包含本振引入的随机分量，使得相位谱测量结果呈现随机跳变的技术问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种消除本振相位随机干扰的测量方法，包括：

获取被测射频信号；

根据所述被测射频信号的待测频点，获取扫频本振信号；

将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频，并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值，k为正整数；

对所述扫频本振信号进行变频处理，并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值；

根据所述第二相位值，消除扫频本振信号相位随机干扰，以获得所述待测频点的相位值。

一种消除本振相位随机干扰的测量装置，包括：

信号输入模块，用于获取被测射频信号；

本振生成模块，用于根据所述被测射频信号的待测频点，获取扫频本振信号；

第一相位测量模块，用于将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频，并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值，k为正整数；

第二相位测量模块，用于对所述扫频本振信号进行变频处理，并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值；

相位修正补偿模块，用于根据所述第二相位值，消除扫频本振信号相位随机干扰，以获得所述待测频点的相位值。

本发明提供一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置，通过获取被测射频信号；将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频，并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值；根据所述被测射频信号的待测频点，获取扫频本振信号；对所述扫频本振信号进行变频处理，并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值；根据所述第二相位值，消除扫频本振信号相位随机干扰，以获得所述待测频点的相位值。本发明通过对本振信号进行变频处理，在特定频点上进行相位测量获得本振相位在扫频过程中的随机变化量，以此修正中频相位测量结果。

附图说明