[发明专利]一种消除本振相位随机干扰的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810455864.0 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN108627705B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 张亦弛;何昭;郭晓涛;黄见明;张子龙;聂梅宁;杨瑷宁 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01R27/28 分类号: G01R27/28
代理公司: 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 代理人: 黄耀威
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 消除 相位 随机 干扰 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种消除本振相位随机干扰的测量方法,其特征在于,包括:

获取被测射频信号;

根据所述被测射频信号的待测频点,获取扫频本振信号;

将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频,并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值,k为正整数;

对所述扫频本振信号进行变频处理,并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值;

根据所述第二相位值,消除扫频本振信号相位随机干扰,以获得所述待测频点的相位值。

2.根据权利要求1所述的消除本振相位随机干扰的测量方法,其特征在于,所述根据所述第二相位值,消除扫频本振信号相位随机干扰,以获得所述待测频点的相位值的步骤,包括:

根据所述第二相位值,对所述第一相位值进行修正以获得所述待测频点的相位值;或者,

对所述扫频本振信号的相位进行修正之后,重新测量第一相位值,以作为所述待测频点的相位值。

3.根据权利要求1所述的消除本振相位随机干扰的测量方法,其特征在于,所述根据所述被测射频信号的待测频点,获取扫频本振信号的步骤包括:

将所述待测频点的频率减去或加上中频分量频率并除以混频的谐波次数k作为所述待测频点对应的扫频本振信号频率,其中,k为正整数;

根据计算出的扫频本振信号频率,生成扫频本振信号。

4.根据权利要求1所述的消除本振相位随机干扰的测量方法,其特征在于,变频处理包括混频处理、倍频处理、分频处理中至少一种。

5.根据权利要求4所述的消除本振相位随机干扰的测量方法,其特征在于,所述对所述扫频本振信号进行变频处理具体可以包括:

通过重复频率为扫频间隔的1/N的多频率成分的周期信号对所述扫频本振信号进行混频处理;

或对倍频处理后的扫频本振信号进行混频处理;

或对分频处理后的扫频本振信号进行混频处理;其中,所述多频率成分的周期信号包括谐波信号或基带信号,N为正整数。

6.一种消除本振相位随机干扰的测量装置,其特征在于,包括:

信号输入模块,用于获取被测射频信号;

本振生成模块,用于根据所述被测射频信号的待测频点,获取扫频本振信号;

第一相位测量模块,用于将所述被测射频信号与扫频本振信号进行k次谐波混频,并测量下变频后信号的中频分量相位值作为第一相位值,k为正整数;

第二相位测量模块,用于对所述扫频本振信号进行变频处理,并测量变频后信号的至少一个频率分量的相位值作为第二相位值;

相位修正补偿模块,用于根据所述第二相位值,消除扫频本振信号相位随机干扰,以获得所述待测频点的相位值。

7.根据权利要求6所述的消除本振相位随机干扰的测量装置,其特征在于,所述相位修正补偿模块包括:

第一修正单元,用于根据所述第二相位值,对所述第一相位值进行修正以获得所述待测频点的相位值;或者,

第二修正单元,用于对所述扫频本振信号的相位进行修正之后,重新测量第一相位值,以作为所述待测频点的相位值。

8.根据权利要求6所述的消除本振相位随机干扰的测量装置,其特征在于,所述本振生成模块包括:

频率计算单元,用于将所述待测频点的频率减去或加上中频分量频率并除以混频的谐波次数k作为所述待测频点对应的扫频本振信号频率,其中,k为正整数;

信号生成单元,用于根据计算出的扫频本振信号频率,生成扫频本振信号。

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