[发明专利]一种芯片测试系统及方法

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：

微处理器和可编程逻辑器件；

其中，所述可编程逻辑器件与上位机相连接，在接收到所述上位机传输的测试指令后，所述可编程逻辑器件确定所述测试指令的类型；

若所述测试指令为第一测试指令，所述可编程逻辑器件获取所述第一测试指令对应的第一测试序列，并根据所述第一测试序列产生相应的第一测试激励，将所述第一测试激励传输至芯片；

若所述测试指令为第二测试指令，所述可编程逻辑器件向所述微处理器发送第二测试序列请求，并根据所述微处理器传输的第二测试序列产生相应的第二测试激励，将所述第二测试激励传输至所述芯片。

2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：

用于存储所述第二测试序列的外置存储器；

所述微处理器在接收到所述可编程逻辑器件发送的所述第二测试序列请求后，确定所述第二测试序列请求对应的第二测试序列的存储位置；

若所述第二测试序列存储在所述微处理器中，所述微处理器将所述第二测试序列传输至所述可编程逻辑器件；

若所述第二测试序列存储在所述外置存储器中，所述微处理器提取所述外置存储器中存储的所述第二测试序列，并将所述第二测试序列传输至所述可编程逻辑器件。

3.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述可编程逻辑器件包括：

上位机接口、指令译码器、控制器和输出接口；

所述上位机接口与所述上位机相连接，用于接收所述上位机传输的指令，并将所述指令传输至所述指令译码器；

所述指令译码器用于在接收到所述指令后，将所述指令转换为相应的控制信号，并将所述控制信号传输至所述控制器，所述指令至少包括测试指令；

若所述控制信号为所述第一测试指令对应的第一控制信号，所述控制器在接收到所述第一控制信号后，产生所述第一控制信号对应的第一测试激励，并通过所述输出接口将所述第一测试激励传输至所述芯片；

若所述控制信号为所述第二测试指令对应的第二控制信号，所述控制器在接收到所述第二控制信号后，向所述微处理器发送第二测试序列请求，并在接收到所述第二测试序列后，产生所述第二测试激励，并通过所述输出接口将所述第二测试激励传输至所述芯片。

4.根据权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，所述可编程逻辑器件还包括：

发送缓存器和时序发生器；

其中，当所述上位机接口接收到的指令为数据写入指令时，所述指令译码器将所述数据写入指令转换为写入控制信号；

所述控制器还用于在接收到所述写入控制信号后，在所述发送缓存器中写入所述写入控制信号中包含的第一数据；

所述发送缓存器被写入所述第一数据后，将所述第一数据传输至时序发生器；

所述时序发生器将所述第一数据传输至所述芯片，以便所述芯片写入所述第一数据。

5.根据权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述可编程逻辑器件还包括：

接收缓存器；

其中，所述接收缓存器用于接收所述芯片通过所述时序发生器反馈的第二数据，并存储所述第二数据；

当所述上位机接口接收到的指令为数据读取指令时，所述指令译码器将所述第二数据读取指令转换为读取控制信号；

所述控制器还用于在接收到所述读取控制信号后，提取所述接收缓存器中存储的所述第二数据，并将所述第二数据传输至所述上位机。

6.根据权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，

当所述上位机接口接收到的指令为芯片复位指令时，所述指令译码器将所述芯片复位指令转换为复位控制信号；

所述控制器还用于在接收到所述复位控制信号后，通过所述时序发生器控制所述芯片执行复位操作。

7.根据权利要求1至6任一项所述的芯片测试系统，其特征在于，

所述可编程逻辑器件为现场可编程门阵列。