[发明专利]系统级芯片测评装置和方法在审
| 申请号： | 201810326534.1 | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108594106A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 王小强;罗军;唐锐;李军求;孙宇 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晓庆 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 系统级芯片 待测系统 芯片 自动化测试设备 应用级数据 测评装置 验证板 测试 测评 控制器控制 性能测试 硬件升级 控制器 依赖度 应用级 | ||
1.一种系统级芯片测评装置，其特征在于，包括ATE测试板、SoC系统验证板和控制器，所述ATE测试板和所述SoC系统验证板分别与所述控制器连接；
所述控制器控制所述ATE测试板获取待测系统级芯片的参数级数据，控制所述SoC系统验证板获取所述待测系统级芯片的应用级数据，并根据所述待测系统级芯片的参数级数据和应用级数据，得到所述待测系统芯片的测评结果。
2.根据权利要求1所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，还包括开发板，所述开发板与所述SoC系统验证板连接。
3.根据权利要求1所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，还包括信号发生器，所述信号发生器与所述SoC系统验证板连接。
4.根据权利要求1所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，还包括示波器，所述示波器与所述SoC系统验证板连接。
5.根据权利要求1所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，还包括上位机，所述上位机与所述SoC系统验证板连接。
6.根据权利要求1所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，所述SoC系统验证板包括外设接口和处理器，所述外设接口与所述处理器连接，所述处理器与待测系统级芯片连接。
7.根据权利要求6所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，所述SoC系统验证板还包括SoC测试插座，所述待测系统级芯片通过所述SoC测试插座与所述处理器连接。
8.根据权利要求6所述的系统级芯片测评装置，其特征在于，所述SoC系统验证板还包括存储器接口，所述存储器接口与所述处理器连接。
9.一种如权利要求1-8任一项所述的系统级芯片测评装置的系统级芯片测评方法，其特征在于，包括步骤：
对所述待测系统级芯片通过所述ATE测试板进行ATE测试，得到所述待测系统级芯片的参数级数据；
当所述待测系统级芯片的ATE测试合格时，对所述待测系统级芯片通过SoC系统验证板进行板级测试，得到所述待测系统级芯片的应用级数据；
根据所述待测系统级芯片的参数级数据以及所述待测系统级芯片的应用级数据，得到所述待测系统级芯片的测评结果。
10.根据权利要求9所述的系统级芯片测评方法，其特征在于，所述对所述待测系统级芯片通过所述ATE测试板进行ATE测试，得到所述待测系统级芯片的参数级数据之后还包括：
当所述待测系统级芯片的ATE测试不合格时，对所述ATE测试不合格的待测系统级芯片进行失效分析。
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