[发明专利]基于荧光材料的无损检测设备

说明书

本发明提供一种基于荧光材料的无损检测设备,所述设备包括荧光激发装置,所述荧光激发装置可发射激发光激发荧光材料；其中,所述激发光为非平行光。采用本发明的无损检测设备，可对涂覆有荧光材料的被测材料表面激发获得对应的荧光信号，可以通过所述荧光信号获取产品表面信息，从而进行表面三维有效定量测量，将有助于分析出表面具体损伤情况，这将有助于提高产品检测的灵敏度，降低废品率。

技术领域

本发明属于产品无损检测领域，具体涉及一种基于荧光材料的无损检测设备。

背景技术

无损探伤检测技术已广泛的应用在产品检测、后期维护等众多工业领域。传统的无损检测方法有超声波法、渗透法、磁粉检测法。目前现有的测试方法和设备均不能对表面进行定量的检测，只可以进行定性的检测。而且这些方法都有一定的局限性。比如磁粉检测法要求对待检测材料通电后有一定的磁性。超声波检测法和渗透法可广泛的检测固体材料，包括金属、非金属、无磁性以及铁磁性材料。但是使用这几种方法及其检测设备均不能对表面有效的三维定量测量。如果可以进行表面上定量检测，将有助于分析出表面具体损伤情况，譬如，分析处表面裂痕与表面划痕的区别。这将有助于提高产品检测的灵敏度，降低废品率。

发明内容

本发明提供一种新的无损检测设备，本发明的无损检测设备可对涂覆有荧光材料的被测材料表面激发获得对应的荧光信号，进一步通过所述荧光信号可获得被测材料的表面情况，具体的本发明提供一种如下的基于荧光材料的无损检测设备：

基于荧光材料的无损检测设备,所述设备包括荧光激发装置,所述荧光激发装置可发射激发光激发荧光材料；其中,所述激发光为非平行激发光。

进一步，所述激发光为激光。

进一步，所述荧光激发装置包括探头，所述激发光通过所述探头对准待测点进行激发。

进一步，所述探头中设置有透镜，荧光激发装置的激发器发出光线通过所述透镜获得非平行激发光。

进一步，可来回移动所述探头改变所述非平行光与测试点的相对距离。

进一步，所述无损检测设备包括样品放置平台，所述样品放置平台可在平台所在平面调节移动改变待测产品的测试点。

进一步，所述无损检测设备包括X轴滑台、Y轴滑台、Z轴滑台和坐标处理模块，所述探头可通过Z轴滑台来回移动改变与测试点的相对距离，所述样品放置平台可通过X轴滑台和Y轴滑台在平台所在平面移动，通过所述坐标处理模块可控制探头和产品放置平台在X轴滑台、Y轴滑台和Z轴滑台的移动位置。

进一步，所述无损检测设备还包括信号采集处理装置，所述信号采集处理装置用于获取荧光信号。

进一步，所述信号采集处理装置包括数据拟合模块；所述数据拟合模块可通过已知距离位置测试点与非平行激发光不同相对距离下激发的荧光信号进行拟合处理，获得待测产品表面的荧光信号与待测产品表面位置信息之间的关联关系。

进一步，所述荧光信号为不同波长的发光峰峰面积比或荧光寿命。。

与现有技术相比，本发明提供了一种基于利用荧光材料的产品无损检测设备，采用本发明的无损检测设备，可对涂覆有荧光材料的被测材料表面激发获得对应的荧光信号，可以通过所述荧光信号获取产品表面信息，从而进行表面三维有效定量测量，将有助于分析出表面具体损伤情况，这将有助于提高产品检测的灵敏度，降低废品率。

附图说明

图1为本发明一具体实施例示意图；

图2为本发明实施例1一铝板表面加工的沟槽结构的尺寸示意图；

图3为本发明实施1例荧光寿命与垂直距离之间关系的拟合曲线图；

图4为本发明实施例1利用荧光寿命与垂直距离之间关系的实际测量沟槽结构的测试结果图；