[发明专利]基于荧光材料的无损检测设备

权利要求书

1.基于荧光材料的无损检测设备,其特征在于,所述设备包括荧光激发装置,所述荧光激发装置可发射激发光激发荧光材料；其中,所述激发光为非平行激发光。

2.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述激发光为激光。

3.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述荧光激发装置包括探头，所述激发光通过所述探头对准待测点进行激发。

4.根据权利要求3所述的无损检测设备，其特征在于，所述探头中设置有透镜，荧光激发装置的激发器发出光线通过所述透镜获得所述非平行激发光。

5.根据权利要求3所述的无损检测设备，其特征在于，可来回移动所述探头改变所述非平行激发光与测试点的相对距离。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的无损检测设备，其特征在于，所述无损检测设备包括样品放置平台，所述样品放置平台可在平台所在平面调节移动改变待测产品的测试点。

7.根据权利要求6所述的无损检测设备，其特征在于，所述无损检测设备包括X轴滑台、Y轴滑台、Z轴滑台和坐标处理模块，所述探头可通过Z轴滑台来回移动改变与测试点的相对距离，所述样品放置平台可通过X轴滑台和Y轴滑台在平台所在平面移动，通过所述坐标处理模块可控制探头和产品放置平台在X轴滑台、Y轴滑台和Z轴滑台的移动位置。

8.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述无损检测设备还包括信号采集处理装置，所述信号采集处理装置用于获取荧光信号。

9.根据权利要求8所述的无损检测设备，其特征在于，所述信号采集处理装置包括数据拟合模块；所述数据拟合模块可通过已知距离位置测试点与非平行激发光不同相对距离下激发的荧光信号进行拟合处理，获得待测产品表面的荧光信号与待测产品表面位置信息之间的关联关系。

10.根据权利要求8所述的无损检测设备，其特征在于，所述荧光信号为不同波长的发光峰峰面积比或荧光寿命。