[发明专利]检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法

说明书

本发明提供一种检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法。缺陷检查装置(1)具备：射线源(2)，其对隔膜卷绕体(10)呈放射状射出电磁波(R)；TDI传感器(4)，其对透过隔膜卷绕体(10)的电磁波(R)进行检测；以及移动机构(3)，其一边将射线源(2)与隔膜卷绕体(10)的距离以及射线源(2)与TDI传感器(4)的距离保持为大致固定，一边使隔膜卷绕体(10)中的检查区域移动。

技术领域

本发明涉及检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法。

背景技术

在锂离子二次电池的内部，正极及负极由多孔质的隔膜分离。在制造隔膜时，有时产生异物附着等缺陷，因此需要检查隔膜上有无缺陷。尤其是，在缺陷为金属等导电性异物的情况下，有可能在锂离子二次电池的内部造成短路。

例如，专利文献1中公开了向被搬运的检查对象物照射X射线来检测异物的X射线异物检测装置。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本国公开专利公报“特开2004-61479号公报(2004年2月26日公开)”

在此，隔膜卷绕体通过如下方式来制造：根据使用的锂离子二次电池的尺寸而从一个坯料分切(切断)出多个隔膜，并将该多个隔膜分别卷绕于芯部。

该隔膜在被从坯料分切时容易从金属刃附着金属异物，因此优选检查分切出的隔膜有无缺陷。另外，也会从搬运辊的滑动部等产生金属异物，因此缺陷的检查优选在以后不与辊接触的将隔膜卷取于芯部之后的隔膜卷绕体中实施。

然而，在专利文献1所记载的X射线异物检测装置中，在为隔膜卷绕体这样的厚度比较大的检查对象物的情况下，在厚度方向上对置的表面及背面中的检查位置有可能产生偏移，导致检查精度降低。

发明内容

本发明的一方案是鉴于上述的问题点而完成的，其目的在于，实现能够抑制由检查对象物的厚度引起的检查精度的降低的检查装置等。

用于解决课题的方案

为了解决上述问题，本发明的一方案的检查装置具备：射线源，其从检查对象物的厚度方向对所述检查对象物呈放射状射出电磁波；TDI传感器，其相对于所述检查对象物设置于与所述射线源相反的一侧，对透过所述检查对象物的所述电磁波进行检测；以及移动机构，其一边将所述射线源与所述检查对象物的距离以及所述射线源与所述TDI传感器的距离保持为大致固定，一边使所述检查对象物中的检查区域移动。

为了解决上述问题，本发明的一方案的检查方法包括：射出工序，在该射出工序中，自射线源从检查对象物的厚度方向对所述检查对象物呈放射状射出电磁波；移动工序，在该移动工序中，使所述检查对象物中的检查区域移动；以及检测工序，在该检测工序中，由TDI传感器对透过所述检查对象物的所述电磁波进行检测，在所述移动工序中，一边将所述射线源与所述检查对象物的距离以及所述射线源与所述TDI传感器的距离保持为大致固定，一边使所述检查区域移动。

发明效果

根据本发明的一方案，起到能够抑制由检查对象物的厚度引起的检查精度的降低这一效果。

附图说明

图1的(a)及(b)是表示实施方式1的分切装置的简要结构的示意图。

图2的(a)～(e)是用于说明实施方式1的隔膜卷绕体的简要结构的示意图。

图3的(a)～(c)是表示实施方式1的缺陷检查装置的简要结构的示意图。

图4的(a)及(b)是用于说明由图3所示的缺陷检查装置进行的缺陷检查方法的一例的示意图。

图5是表示图3所示的缺陷检查装置的变形例的简要结构的主视图。