[发明专利]一种光接口差分信号故障检测系统及方法

说明书

本发明涉及数据通信领域中的光接口检测技术，其公开了一种光接口差分信号故障检测方法，解决传统技术中的光接口工装在环回检测中无法检测出设备的光接口差分信号故障的问题。该方法可以概括为：测试平台向被测设备发送光接口测试命令；被测设备将所述光接口测试命令发送给测试工装；测试工装控制被测设备的光接口其中一个极性的信号引脚模拟接地；然后，被测设备向该光接口发送环回测试数据包；由测试工装测试该光接口的另一个极性的差分信号引脚是否出现故障。此外，本发明还公开了一种光接口差分信号故障检测系统，适用于光接口设备差分信号故障检测。

技术领域

本发明涉及数据通信领域中的光接口检测技术，具体涉及一种光接口差分信号故障检测系统及方法。

背景技术

在高带宽网络通信产品中大量采用差分信号进行接口互连，特别是光接口之间，主要是以差分信号进行数据传输；为了保障信号传输的可靠性，通常采用光接口工装对设备的光接口进行短距离环回检测。

由于差分信号的特点(在满足差分信号幅值要求的前提下，通过光接口工装在对接口差分信号进行短距离环回测试时，只要差分信号的正极(P)或负极(N)中的一个信号可以正常通信，接口仍然可以正常测试而不受影响)，如果在设备实际生产过程中，光端口的差分信号正极引脚(P)或负极(N)引脚中的一个出线焊接不良或虚焊的情况，基于目前的光接口工装在环回检测中无法检测出设备的光接口差分信号故障，该设备在市场实际应用过程中存在着极大隐患。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提出一种光接口差分信号故障检测系统及方法，解决传统技术中的光接口工装在环回检测中无法检测出设备的光接口差分信号故障的问题。

一方面，本发明的实施例提出了一种光接口差分信号故障检测系统，其包括测试平台、测试工装和被测设备；所述测试工装与被测设备的待测光接口相连；

所述测试平台，用于向所述被测设备的发送光接口测试命令，并获取被测设备反馈的光接口测试结果；

所述被测设备，用于在收到测试平台发送的光接口测试命令时，将所述光接口测试命令通过待测光接口发送给测试工装，并构造测试数据包对所述待测光接口进行环回测试；

所述测试工装，用于在收到被测设备发送的光接口测试命令时，控制被测设备的待测光接口的一个极性差分信号引脚模拟接地，判断所述待测光接口的另一个极性差分信号引脚是否出现故障，并通过被测设备向测试平台反馈该待测光接口的测试结果。

作为进一步优化，所述测试工装为可编程逻辑控制器。

作为进一步优化，所述测试工装的电源输入端与被测设备的待测光接口的供电电源端相连，测试工装的通用输入输出GPIO引脚与被测设备的待测光接口的差分信号引脚对应相连；测试工装的I2C引脚与被测设备的待测光接口的I2C引脚对应相连。

作为进一步优化，所述测试工装控制被测设备的待测光接口的一个极性差分信号引脚模拟接地，具体为：

所述测试工装控制拉低连接到被测设备的待测光接口的正极差分信号引脚的通用输入/输出GPIO引脚电平，以控制所述正极差分信号引脚模拟接地；

或者，所述测试工装控制拉低连接到被测设备的待测光接口的负极差分信号引脚的通用输入/输出GPIO引脚电平，以控制所述负极差分信号引脚模拟接地。

作为进一步优化，所述测试平台还用于对差分信号引脚存在故障的待测光接口进行故障报错。

作为进一步优化，所述测试工装的通用输入/输出GPIO引脚还通过逻辑开关与被测设备的待测光接口的差分信号引脚对应相连。

另一方面，本发明的实施例还提出了一种光接口差分信号故障检测方法，应用于上述故障检测系统，该方法包括以下步骤：

测试平台向被测设备发送光接口测试命令；