[发明专利]一种光接口差分信号故障检测系统及方法

权利要求书

1.一种光接口差分信号故障检测系统，其特征在于，包括测试平台、测试工装和被测设备；所述测试工装与被测设备的待测光接口相连；

所述测试平台，用于向所述被测设备发送光接口测试命令，并获取被测设备反馈的光接口测试结果；

所述被测设备，用于在收到测试平台发送的光接口测试命令时，将所述光接口测试命令通过待测光接口发送给测试工装，并构造测试数据包对所述待测光接口进行环回测试；

所述测试工装，用于在收到被测设备发送的光接口测试命令时，控制被测设备的待测光接口的一个极性差分信号引脚模拟接地，判断所述待测光接口的另一个极性差分信号引脚是否出现故障，并通过被测设备向测试平台反馈该待测光接口的测试结果；

所述控制被测设备的待测光接口的一个极性差分信号引脚模拟接地，具体为：

所述测试工装控制拉低连接到被测设备的待测光接口的正极差分信号引脚的通用输入/输出GPIO引脚电平，以控制所述正极差分信号引脚模拟接地；

或者，所述测试工装控制拉低连接到被测设备的待测光接口的负极差分信号引脚的通用输入/输出GPIO引脚电平，以控制所述负极差分信号引脚模拟接地。

2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述测试工装为可编程逻辑控制器。

3.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述测试工装的电源输入端与被测设备的待测光接口的供电电源端相连，测试工装的通用输入/输出GPIO引脚与被测设备的待测光接口的差分信号引脚对应相连，测试工装的I2C引脚与被测设备的待测光接口的I2C引脚对应相连。

4.如权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述测试工装的通用输入/输出GPIO引脚还通过逻辑开关与被测设备的待测光接口的差分信号引脚对应相连。

5.如权利要求1-4任意一项所述的检测系统，其特征在于，所述测试平台还用于对差分信号引脚存在故障的待测光接口进行故障报错。

6.一种光接口差分信号故障检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

测试平台向被测设备发送光接口测试命令；

所述被测设备通过待测光接口将所述光接口测试命令发送给测试工装；

所述测试工装控制被测设备的待测光接口的正极/负极差分信号引脚模拟接地；

所述被测设备向待测光接口发送测试数据包；

测试工装测试该待测光接口的负极/正极差分信号引脚是否出现故障；

所述测试工装控制被测设备的待测光接口的正极/负极差分信号引脚模拟接地，具体包括：

所述测试工装控制拉低连接到被测设备的待测光接口的正极差分信号引脚的通用输入/输出GPIO引脚电平，以控制所述正极差分信号引脚模拟接地；

或者，所述测试工装控制拉低连接到被测设备的光接口的负极差分信号引脚的通用输入/输出GPIO引脚电平，以控制所述负极差分信号引脚模拟接地。

7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述测试工装控制被测设备的光接口的正极/负极差分信号引脚模拟接地，具体包括：所述测试工装利用逻辑开关控制被测设备的待测光接口的正极/负极差分信号引脚模拟接地。

8.如权利要求6或7所述的检测方法，其特征在于，所述测试工装测试该待测光接口的负极/正极差分信号引脚是否出现故障，具体包括：如果判断出现故障，所述测试工装通过被测设备向所述测试平台反馈该光接口的测试结果；所述测试平台对差分信号引脚存在故障的待测光接口进行故障报错。