[发明专利]一种控制器测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810252361.3 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108445869A 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 赵鸣;赵彩虹 申请(专利权)人: 杭州先途电子有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 310018 浙江省杭州市下沙经济*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 驱动参数 被测试控制器 固定电机 控制器测试 测试 电机驱动功能 参数获取 测试效率 发送参数 管理成本 获取请求 控制器 驱动 不一致 上位机 位机 申请 存储 发送 检测
【说明书】:

本申请公开了一种控制器测试方法及装置,该方法包括:被测试控制器向上位机发送参数获取请求,上位机接收到参数获取请求后,便会向被测试控制器发送第一驱动参数,关于所述第一驱动参数,其是固定电机的驱动参数,该驱动参数可能与被测试控制器原本存储的驱动参数一致,也可能不一致,但利用该第一驱动参数可以对所述固定电机进行驱动测试,如果测试正常,表明被测试控制器的驱动功能正常,否则不正常。可见,本申请可以选择一个固定电机来检测不同控制器的电机驱动功能是否正常,降低了测试和管理成本、且提高了测试效率。

技术领域

本申请涉及检测技术领域,尤其涉及一种控制器测试方法及系统。

背景技术

随着空调控制器的生产与需求的多样化,不同性能的控制器所匹配的电机也不相同,即,不同性能的空调控制器对不同电机进行驱动控制,这使得不同控制器中的电机驱动所匹配的驱动参数不相同。其中,控制器包括电可擦可编程只读存储器(ElectricallyErasable Programmable read only memory,简称EEPROM)芯片和单片机(MicroController Unit,简称MCU)芯片,而电机驱动参数被存储在EEPROM芯片中或者在MCU芯片中固化。

目前,在生产测试环节,需要对控制器的电机驱动功能进行功能测试(FunctionCircuit Test,简称FCT),然而,对于已定性的控制器产品,由于不能对存储在EEPROM芯片或MCU芯片中的电机驱动参数进行擦除或者修改,因此,需要使用不同性能的控制器与不同电机进行匹配测试,以此来检测不同控制器的电机驱动功能是否正常,但是,采用这种一一匹配的测试方式,会增加测试和管理成本、且测试效率较低。

发明内容

本申请实施例的主要目的在于提供一种控制器测试方法及系统,能够降低测试和管理成本、且提高测试效率。

第一方面,本申请实施例提供了一种控制器测试方法,其特征在于,所述方法应用于一种包括上位机、被测试控制器以及固定电机的测试系统,所述被测试控制器与所述上位机之间建立通信连接;所述方法包括:

所述被测试控制器向所述上位机发送参数获取请求;

所述上位机接收到所述参数获取请求后,向所述被测试控制器发送第一驱动参数,其中,所述第一驱动参数是所述固定电机的驱动参数;

所述被测试控制器接收到所述第一驱动参数后,利用所述第一驱动参数,对所述固定电机进行驱动测试,以便根据测试结果确定所述被测试控制器的性能是否正常。

在一些可能的实施方式中,所述被测试控制器向所述上位机发送参数获取请求之前,还包括:

所述被测试控制器判断自己的匹配电机与所述固定电机是否一致;

若一致,则利用自身固定存储的第二驱动参数,对所述固定电机进行驱动测试,以便根据测试结果确定所述被测试控制器的性能是否正常,不再执行向所述上位机发送参数获取请求的步骤,其中,所述第二驱动参数是所述匹配电机的驱动参数;

若不一致,则继续执行向所述上位机发送参数获取请求的步骤。

在一些可能的实施方式中,所述上位机向所述被测试控制器发送第一驱动参数,包括:

所述上位机将所述第一驱动参数按照预设长度进行分段,选取未成功发送的一个分段数据,并向所述被测试控制器发送所述分段数据,以便所述被测试控制器接收到数据后,将所接收数据回传给所述上位机;

判断所述分段数据与所述上位机的回传数据是否一致;

若一致,则确定数据发送成功,并再次执行所述选取未成功发送的一个分段数据的步骤,直至成功发送完所述第一驱动参数为止;

若不一致,则确定数据发送失败,并重新执行向所述被测试控制器发送所述分段数据的步骤。

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