[发明专利]显示面板、阵列基板、薄膜晶体管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810251761.2 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108461403A 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 杨宇桐;黄中浩;王恺;吴旭;周宏儒;王兆君 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/34 分类号: H01L21/34;H01L29/786;H01L29/51;H01L27/12;G02F1/1362
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 阚梓瑄;王卫忠
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 氧化物有源层 薄膜晶体管 栅介质层 金属氧化物层 显示面板 阵列基板 钝化层 源漏极 绝缘层 制造 衬底基板
【说明书】:

本公开提供一种显示面板、阵列基板、薄膜晶体管及薄膜晶体管的制造方法,涉及显示技术领域。本公开的薄膜晶体管的制造方法包括:在一衬底基板上形成栅极;在栅极上形成栅介质层;在栅介质层上形成氧化物有源层;在氧化物有源层上形成源漏极层;在源漏极层和氧化物有源层上形成钝化层;其中,栅介质层和钝化层中至少一个包括金属氧化物层和绝缘层,且金属氧化物层与氧化物有源层直接接触。

技术领域

本公开涉及显示技术领域,具体而言,涉及一种显示面板、阵列基板、薄膜晶体管及薄膜晶体管的制造方法。

背景技术

薄膜晶体管(TFT)是一种绝缘栅场效应晶体管,通常应用于液晶显示等领域,以液晶面板为例,现有的液晶面板一般包括阵列基板、彩膜基板等,薄膜晶体管是阵列基板中必不可少的控制器件。现有薄膜晶体管通常包括栅极、栅介质层、氧化物有源层、源漏极层和钝化层,源漏极层包括源极和漏极,其中,氧化物有源层的材料通常为IGZO(铟镓锌氧化物)等氧化物,栅介质层和钝化层通常为硅的氧化物或氮化物形成单膜层结构。

但是,现有栅介质层和钝化层的介电常数较低,膜质较为疏松,容易形成较多的缺陷,与IGZO等氧化物直接接触时,会大大降低电子迁移率,且对于H+、Na+等离子扩散阻挡作用较弱,导致电学不稳定性升高。同时,在采用等离子体增强化学的气相沉积法制备栅介质层和钝化层时,氧原子在高温等离子环境下容易脱出,使氧空位增多,导致膜质导体化严重,使薄膜晶体管发生阈值电压漂移或者开启电流变小、漏电流变大等导致电学特性和稳定性变差的现象。

需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种显示面板、阵列基板、薄膜晶体管及薄膜晶体管的制造方法,能够提高薄膜晶体管的电学特性和稳定性。

根据本公开的一个方面,一种薄膜晶体管的制造方法,包括:

在一衬底基板上形成栅极;

在所述栅极上形成栅介质层;

在所述栅介质层上形成氧化物有源层;

在所述氧化物有源层上形成源漏极层;

在所述源漏极层和所述氧化物有源层上形成钝化层;

其中,所述栅介质层和所述钝化层中至少一个包括金属氧化物层和绝缘层,且所述金属氧化物层与所述氧化物有源层直接接触。

在本公开的一种示例性实施例中,形成所述栅介质层包括:

在所述栅极上形成第一子介质层,所述第一子介质层为所述绝缘层;

在所述第一子介质层上形成第二子介质层,所述第二子介质层为所述金属氧化物层。

在本公开的一种示例性实施例中,形成所述钝化层包括:

在所述氧化物有源层和所述源漏极层上形成第一子钝化层,所述第一子钝化层为所述金属氧化物层;

在所述第一子钝化层上形成第二子钝化层,所述第二子钝化层为所述绝缘层。

在本公开的一种示例性实施例中,所述金属氧化物层的材料为铝、钛、钇、锆和铪的氧化物其中之一。

在本公开的一种示例性实施例中,所述金属氧化物层通过溅射工艺形成。

根据本公开的一个方面,提供一种薄膜晶体管,包括:

栅极;

栅介质层,设于所述栅极上;

氧化物有源层,设于所述栅介质层上;

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