[发明专利]一种镀膜设计方法及透明基板在审

专利信息
申请号: 201810247555.4 申请日: 2018-03-23
公开(公告)号: CN108490519A 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 石炳川 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G02B5/08 分类号: G02B5/08
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 代理人: 王伟锋;刘铁生
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 透明基板 透射区域 镀膜 反射膜 开口 生产工艺要求 半透半反膜 等面积矩形 反射率计算 反射膜材料 反射膜区域 工艺要求 图形结构 整体镀膜 透射率 子区域 申请 透明
【说明书】:

本申请公开了一种镀膜设计方法及透明基板,涉及显示技术领域,解决了现有半透半反膜采用的整体镀膜方法设计复杂、工艺要求高和成本较高的问题;该镀膜设计方法包括以下步骤:(1)在透明基板上镀上所选取的反射膜材料;(2)根据所要求的透射率或反射率计算透射区域的占比;(3)按照所计算的透射区域的占比,对镀在透明基板上的反射膜进行开口,具体为:将整个反射膜区域分成M*N个等面积矩形子区域;当透射区域的占比为Za时,对其中Za*M*N个子区域进行完全开口,形成反射膜图形结构。本申请的方法具有设计简单,生产工艺要求低的特点,而且可以大大提高产品的稳定性。

技术领域

本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种镀膜设计方法及透明基板。

背景技术

增强现实和车/机载抬头显示等领域因为需要同时融合外部透射光束和内部器件成像光束,对于半透半反式类光学器件具有广泛的需求。现有技术采用整体镀膜技术,通过设计多层膜结构实现对光束透反比的控制,由于膜层材料需要对可见光所覆盖的较长波段具有透射反射比例调节作用,会导致膜层设计复杂,对于膜层材料、基底材料、工艺稳定性要求高,造成器件加工工艺复杂,成本较高。

申请内容

本申请实施例通过提供一种镀膜设计方法及透明基板,解决了现有半透半反膜采用的整体镀膜方法设计复杂、工艺要求高和成本较高的问题,提供了一种透射反射比例可调且设计简单、生产工艺要求低和稳定性高的镀膜方法。

为达到上述目的,本申请主要提供如下技术方案:

一方面,本申请实施例提供了一种镀膜设计方法,包括以下步骤:

(1)在透明基板上镀上所选取的反射膜材料;

(2)根据所要求的透射率或反射率计算透射区域的占比;

(3)按照所计算的透射区域的占比,对镀在透明基板上的反射膜进行开口,具体为:将整个反射膜区域分成M*N个等面积矩形子区域;当透射区域的占比为Za时,对其中Za*M*N个子区域进行完全开口,形成反射膜图形结构。

作为优选,所述子区域的尺度低于人眼的分辨极限。

作为优选,根据所要求的透射率或反射率按照以下的公式计算透射区域的占比:

镀反射膜的透明基板的整体透射率T=Za*Tg+Zb*Tf,镀反射膜的透明基板的整体反射率R=Za*Rg+Zb*Rf,且Tg+Ag+Rg=1,Tf+Af+Rf=1,Za+Zb=1,其中Tg为透明基板的透射率,Ag为透明基板的吸收率,Rg为透明基板的反射率,Tf为反射区域的透射率,Af为反射区域的吸收率,Rf为反射区域的反射率,Za为透射区域的占比,Zb为反射区域的占比,由此可推出:

透射区域的占比为:Za=(T-Tf)/(Tg-Tf),

反射区域的占比为:Zb=(R-Rg)/(Rf-Rg)。

作为优选,对其中Za*M*N个子区域进行完全开口后,形成的反射膜图形结构为栅栏状结构。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810247555.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top