[发明专利]一种基于多路探头的荧光片发射光性能测试装置及方法

说明书

本发明提供了一种荧光片发射光性能测试装置及方法，控温装置由层叠设置的控温底座和顶盖组成，顶盖沿着自身的长度方向间隔布置有多个安装槽，每一个凹槽内设置一个LED激发光源；顶盖外接恒流源并集成了电路用于驱动LED激发光源；控温底座与LED激发光源导热接触；恒流源驱动LED激发光源发出激发光；多片荧光片置于荧光片底座上，运动控制器控制多片荧光片中地一片运动至激发光的传输路径中，使得该荧光片2被激发光激发后的发射光被探头接收并传导至CCD光谱仪；CCD光谱仪4将光信号转化为电信号并传导给计算机；计算机处理来自CCD光谱仪的电信号，实现荧光片发射光光谱采集及数据分析处理。

技术领域

本发明涉及LED用的荧光片发射光性能测试,尤其是涉及一种基于多路探头的荧光片发射光性能测试装置及方法。

背景技术

近年来，发光二极管(LED)凭借其高效节能、环境友好、高可靠性、光谱可调等优点已经在家居照明、办公照明、展示照明等场合中得到了广泛应用。在上述应用场景中采用性能较好的白光LED通常能获得较理想的节能效果。白光LED中大多采用的方案是利用近紫外到蓝光波段的LED芯片激发荧光片获得其它颜色的发射光，然后发射光与透过荧光片的蓝色激发光共同组合成白光。因此，为了获取性能更好的白光LED，人们需要对所制备的荧光片进行相应的性能测试，尤其是它的光学特性。

目前对荧光片或者荧光片片的性能测试方法主要分为反射式和透射式两种。中国专利CN101191770B授权了发光二极管荧光片发射光谱测量方法，其采用的原理为反射式，即选用460nm的蓝光LED作为激发光源，激发光经过聚光透镜和窄带滤光片后照射在荧光片上，探头与激发光源在荧光片的同侧，探头用于收集荧光片受激发后的发射光并通过光纤传导给光谱测试仪进行测试。中国专利CN104198453B授权一种远程荧光片性能测试装置及方法，其采用的原理为透射式，激发光源发出的光经积分球后均匀照射在荧光片上，探头设在荧光片的另一侧，通过采集荧光片受激发后的发射光与透过荧光片的激发光并通过光学元件传导给光谱仪。另一方面，荧光片的性能测试系统中在光源获取上也有几种不同的方式，如采用白光通过滤光片或者单色仪获取激发光。中国专利CN100594371C授权了长余辉荧光片发光特性自动测试装置，其采用氙灯或金卤灯作为激发光源，但该种测试方法与实际情况有偏差，因为实际应用中更多采用蓝光LED激发荧光片，两者在激发光谱上有较大的差异性。

上述测试装置和测试方法均存在以下几个问题：

1.并未对荧光片发射光的均匀性进行测试。

2.激发光源波长比较单一，而且更换不易。

发明内容

本发明目的在于针对上述现有技术存在的不足，设计出一种基于多路探头的荧光片发射光性能测试装置及方法。

本发明提供了一种荧光片发射光性能测试装置，包括：LED激发光源、控温装置、恒流源、探头、CCD光谱仪、荧光片底座、运动控制器、计算机；

所述控温装置由层叠设置的控温底座和顶盖组成，所述顶盖沿着自身的长度方向间隔布置有多个安装槽，每一个凹槽内设置一个LED激发光源；顶盖外接恒流源并集成了电路用于驱动所述LED激发光源；控温底座与LED激发光源导热接触；

所述恒流源驱动LED激发光源发出激发光；多片荧光片置于所述荧光片底座上，所述运动控制器控制所述多片荧光片中地一片运动至所述激发光的传输路径中，使得该荧光片2被激发光激发后的发射光被探头接收并传导至CCD光谱仪；所述CCD光谱仪4将光信号转化为电信号并传导给计算机；计算机处理来自CCD光谱仪的电信号，实现荧光片发射光光谱采集及数据分析处理。

在一较佳实施例中：所述探头上固定有多个光纤，用于接收荧光片不同区域受激发光激发所产生的发射光。

在一较佳实施例中：所述光纤中一部分成圆环状分布，另一部分成十字形分布并置于圆环内；所述光纤的入射端朝向所述荧光片，出射端连接CCD光谱仪。