[发明专利]一种基于多路探头的荧光片发射光性能测试装置及方法

权利要求书

1.一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于包括：LED激发光源、控温装置、恒流源、探头、CCD光谱仪、荧光片底座、运动控制器、计算机；

所述控温装置由层叠设置的控温底座和顶盖组成，所述顶盖沿着自身的长度方向间隔布置有多个安装槽，每一个凹槽内设置一个LED激发光源；顶盖外接恒流源并集成了电路用于驱动所述LED激发光源；控温底座与LED激发光源导热接触；

所述恒流源驱动LED激发光源发出激发光；多片荧光片置于所述荧光片底座上，所述运动控制器控制所述多片荧光片中地一片运动至所述激发光的传输路径中，使得该荧光片2被激发光激发后的发射光被探头接收并传导至CCD光谱仪；所述CCD光谱仪4将光信号转化为电信号并传导给计算机；计算机处理来自CCD光谱仪的电信号，实现荧光片发射光光谱采集及数据分析处理。

2.根据权利要求1所述的一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于：所述探头上固定有多个光纤，用于接收荧光片不同区域受激发光激发所产生的发射光。

3.根据权利要求2所述的一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于：所述光纤中一部分成圆环状分布，另一部分成十字形分布并置于圆环内；所述光纤的入射端朝向所述荧光片，出射端连接CCD光谱仪。

4.根据权利要求3所述的一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于：所述荧光片底座由支架、步进电机、荧光片托盘组成；荧光片放置在荧光片托盘的凹槽上；步进电机接受来自运动控制器的控制带动荧光片托盘进行旋转，从而使得其中一片荧光片转动至激发光的传输路径中。

5.根据权利要求4所述的一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于：所述LED激发光源发出的激发光与荧光片2的发射光在同一直线上，探头与LED激发光源分别在荧光片的不同侧。

6.根据权利要求5所述的一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于：LED激发光源发出的激发光与荧光片的发射光不在同一直线上，探头与LED激发光源都在荧光片的同侧。

7.一种利用权利要求5所述的荧光片发射光性能测试装置的测试方法：

1)将待测荧光粉置于透明载波片制成荧光片后，装填在荧光片底座相应的凹槽中上；

2)将数个特定波长的LED激发光源1固定在控温装置5上；

3)通过计算机设置控温装置；

4)控温装置接收来自计算机的命令并开始升温或降温；

5)待控温装置的温度稳定后，通过计算机设置恒流源；

6)恒流源接收来自计算机的命令并驱动LED激发光源发光；

7)通过计算机设置运动控制器；

8)运动控制器接收来自计算机的命令并控制荧光片底座选取待测量的荧光片；

9)通过计算机控制CCD光谱仪；

10)CCD光谱仪接收来自计算机的命令，切换来自探头的光信号；

11)CCD光谱仪接收来自探头的光信号，并将采集的光谱数据发送给计算机；

12)计算机对光谱数据进行处理和保存；

13)重复步骤8-12。