[发明专利]现场设备及劣化诊断方法

权利要求书

1.一种现场设备，其具有显示各种信息的显示装置，该现场设备的特征在于，具备：

受光传感器；以及

诊断部，其基于根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度来获取与所述显示装置有关的第1劣化程度，并对所述第1劣化程度和预先设定的与所述显示装置有关的劣化阈值进行比较，

所述诊断部在所述第1劣化程度超过了所述劣化阈值的情况下输出对应的诊断内容。

2.根据权利要求1所述的现场设备，其特征在于，

所述受光传感器接收照射至所述显示装置的光，

所述诊断部将根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度与预先设定的照度阈值进行比较，由此获取所述显示装置中的由光的照度引起的第1劣化的发生状况，根据所获得的所述发生状况来累计与所述显示装置有关的第1劣化程度，并将所述第1劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化，在所述第1劣化程度达到所述劣化阈值的时间点报告所述显示装置的诊断内容。

3.根据权利要求1所述的现场设备，其特征在于，

还具备进行对象设备的控制或者物理量的测量的CPU，

所述诊断部由所述CPU构成。

4.根据权利要求3所述的现场设备，其特征在于，

所述诊断部根据在所述第1劣化的发生期间内观测所述CPU的时钟而获得的计数结果来累计所述第1劣化程度。

5.根据权利要求2所述的现场设备，其特征在于，

还具备检测所述显示装置附近的温度的温度传感器，并且，

所述诊断部将根据所述温度传感器的传感器输出而求出的测量温度与预先设定的温度阈值进行比较，由此获取所述显示装置中的由温度引起的第2劣化的发生状况，根据所获得的所述发生状况来累计与所述显示装置有关的第2劣化程度，通过将所述第1劣化程度与所述第2劣化程度以规定比例加以合计来求出合计劣化程度，并将所述合计劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化。

6.根据权利要求2所述的现场设备，其特征在于，

所述诊断部根据所述显示装置中的由通电引起的第3劣化的发生状况来累计与所述显示装置有关的第3劣化程度，通过将所述第1劣化程度与所述第3劣化程度以规定比率加以合计来求出合计劣化程度，并将所述合计劣化程度与所述劣化阈值进行比较，由此诊断所述显示装置的劣化。

7.根据权利要求2所述的现场设备，其特征在于，

所述诊断部在累计所述第1劣化程度时，累计所述测量照度达到所述照度阈值以上的期间以及所述测量照度从不到所述照度阈值上升到所述照度阈值以上的次数中的至少任一方作为所述第1劣化程度。

8.根据权利要求5所述的现场设备，其特征在于，

所述诊断部在累计所述第2劣化程度时，累计所述测量温度达到所述温度阈值以上的期间以及所述测量温度从不到所述温度阈值上升到所述温度阈值以上的次数中的至少任一方作为所述第2劣化程度。

9.根据权利要求6所述的现场设备，其特征在于，

所述诊断部在累计所述第3劣化程度时，累计所述现场设备或所述显示装置通电的期间及次数中的至少任一方作为所述第3劣化程度。

10.一种劣化诊断方法，其在具有显示各种信息的显示装置的现场设备中加以使用，诊断所述显示装置的劣化，该劣化诊断方法的特征在于，具备：

利用受光传感器接收光的步骤；以及

诊断步骤，诊断部基于根据所述受光传感器的传感器输出而求出的测量照度来获取与所述显示装置有关的第1劣化程度，并对所述第1劣化程度和预先设定的与所述显示装置有关的劣化阈值进行比较，在所述第1劣化程度超过了所述劣化阈值的情况下，输出对应的诊断内容。