[发明专利]基于多类型测试获得真实产量数据的方法

说明书

本发明公开了一种基于多类型测试获得真实产量数据的方法，采用冷热测试抽样率的数据结合冷热测的测试速率再转换成时间度量，以得到可用于生产指导的真实的实时测试数量数据；本发明可以有效结合多类型测试，根据采集到的多批次的测试数据进行转换折合，得到实际真实产量数据，用于生产指导，以便于快速锁定问题并积极响应。

技术领域

本发明涉及工厂生产情况的监测技术领域，特别是基于多类型测试获得真实产量数据的方法。

背景技术

目前，芯片性能模块主要用于对芯片电性能测试设备的生产情况进行监测。对半导体芯片进行测试时，将半导体芯片产品加载到测试设备上，运行测试程序，对产品的质量、性能进行测试。在测试过程中，通常采用设备的实际产出批次的数据来对比额定产能，用以得到实际生产效能的数据。

目前能采用的设备产出数据主要包括两个方面：1.数据库的批次完成数据，数据库可以是本领域所用的Mars数据库，或其他常用数据库；2.AOT(actual output)unitlevel的实时测试数量数据，其中unit level指单个芯片级别的产出数据，相对应的是批次级别的产出数据。

但是针对热、冷混合测试的产品，即芯片电性能测试设备在高温情况下对某批次的产品进行性能测试，随后抽取该批次内一定比例的产品在低温下进行性能抽样测试，最终该批次产品性能测试结束。例如对部分处理器产品进行测试，采用以上两个方面的数据时，在数据准确性上，都不能满足要求，原因如下：

1.如果使用Mars数据库批次完成数据来衡量各班次生产指标的话，会存在数据延迟，这是因为生产设备是连续生产的，在班次结束或者中途时间点抓取数据的时候，生产设备上仍然有大量已测试完成的产品数据没有上传到数据库，导致结果失真。

2.如果直接使用AOT，单个芯片级别的产出数据的实时测试数量数据，虽然可以解决数据延迟的问题，但是会带来另外的问题，那就是AOT会对多重测试部分(cold/hotmultiple test)重复计数，这将直接导致产量数据比实际偏大的情况，影响最终结果和决策。

鉴于上述传统方法存在的技术缺陷，以及实际业务需要提供准确的产量和生产效能数据，所以需要建立新的针对多类型测试的产量、生产效率方法。

发明内容

本发明为解决上述技术缺陷，提供了一种基于多类型测试获得真实产量数据的方法，该方法可以有效结合多类型测试，根据采集到的多批次的测试数据进行转换折合，得到实际真实产量数据，用于生产指导。

本发明的技术方案如下：

基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：

首先，获得设备的某批次的冷热测试抽样率的数据，然后结合冷热测的测试速率，再将该批次的整个冷热测试过程转换为时间度量，进而根据各批次的测试进度折算出可用于生产指导的真实的实时测试数量数据(Puretest)。

所述多类型测试指热、冷混合测试，也可以指热、冷测试和其他不同方式测试的混合测试。

所述冷热测试抽样率的数据至少包括该批次测试的：实际测试数量、生产速率、数量比例、批次产品数量。其中：

实际测试数量是通过设备控制器实时上传到数据库，直接从数据库读取实际测试数量；

针对不同的产品，所述生产速率、数量比例、批次产品数量均是先预先设定数据，然后录入生产系统数据库，然后直接从相关生产系统数据库读取相应的数据。所述生产速率可以是每小时产能的生产速率，或者根据具体情况设定的一定时间周期内产能的生产速率。

所述时间度量是指用时间进度替换测试数量进度，用来衡量该批次的整体测试进度。