[发明专利]基于多类型测试获得真实产量数据的方法

权利要求书

1.基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：首先，获得设备的某批次的冷热测试抽样率的数据，然后结合冷热测的测试速率，再将该批次的整个冷热测试过程转换为时间度量，进而根据该批次的测试进度折算出可用于生产指导的真实的实时测试数量数据；所述时间度量是指用时间进度替换测试数量进度，用来衡量该批次的整体测试进度；

所述折算的过程是通过下面的公式完成：

Agg_puretest＝LotSize*ACtual_Processing_Rate

其中：Agg_puretest表示实时测试数量，LotSize表示批次产品数量，Actual_Processing_Rate表示批次实际测试进度；Efficiency表示Agg_puretest和期望产量的对比值，Qty_A表示测试方式A的实际测试数量，Qty_B表示测试方法B的实际测试数量，EUPH_A表示测试方法A的生产速率，EUPH_B表示测试方法B的生产速率，Hours表示总生产时间。

2.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述冷热测试抽样率的数据至少包括该批次测试的：实际测试数量、生产速率、数量比例、批次产品数量。

3.根据权利要求2所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实际测试数量是通过设备控制器实时上传到数据库，直接从数据库读取实际测试数量。

4.根据权利要求2所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：针对待测试的不同的半导体芯片产品，首先对所述生产速率、数量比例、批次产品数量进行预先设定数据，然后录入生产系统数据库，然后直接从生产系统数据库读取相应的数据。

5.根据权利要求4所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述生产速率是根据具体情况设定的一定时间周期内产能的生产速率。

6.根据权利要求4或5所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述生产速率限定为每小时产能的生产速率。

7.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实时测试数量数据是批次在单个产品级别的测试计数，该测试计数以产品的个数为单位。

8.根据权利要求7所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实时测试数量数据允许是整个批次的产品测试中的部分测试计数，该部分测试计数表示是整个批次产品总个数中的一部分。

9.根据权利要求7所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实时测试数量数据允许是整个批次的产品测试的总测试计数，该总测试计数表示是整个批次产品的总个数。

10.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述Actual_Processing_Rate的计算方式如下：

其中：Actual_Process_Time表示当前完成量折算成的时间，Total_Process_Time表示该批次按照多种测试速率和抽样比例总共需要的测试时间。

11.根据权利要求10所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述Actual_Process_Time，Total_Process_Time的计算方式如下：

其中：SR_A表示批次进行测试方法A测试的数量比例，SR_B表示批次进行测试方法B测试的数量比例。

12.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：对于获得的Efficiency，当Efficiency小于1时，则说明设备没有达到要求，然后通过相应的通知方式通知生产管理人员。

13.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：当Efficiency大于或等于1时，表明该设备有部分生产指标优于计划值，如果生产指标持续优于目标值，将触发对该生产指标的目标值进行重新评估，提高对这种设备该指标的目标要求，进而提高标准生产速率。