[发明专利]影像处理装置及测距装置有效
申请号: | 201810214190.5 | 申请日: | 2018-03-15 |
公开(公告)号: | CN109470158B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 山口润;森内优介;三岛直 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14;G01C11/06;G06T7/514;G06T7/55 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 徐颖聪 |
地址: | 日本国东京*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 处理 装置 测距 | ||
1.一种影像处理装置,其特征在于,具备:
缓冲部,其保存拍摄被摄体而得的第1影像和拍摄所述被摄体而得的不同于所述第1影像的第2影像;
距离算出部,其算出从摄像部到所述第1影像中的所述被摄体的第1距离信息和从摄像部到所述第2影像中的所述被摄体的第2距离信息中的至少一方;
三维坐标算出部,其使用所述第1影像和所述第2影像来算出所述被摄体的相对尺度的三维坐标;以及
修正部,其根据所述第1距离信息和所述第2距离信息中的至少一方以及所述相对尺度的三维坐标来算出所述被摄体的实际尺度的三维坐标,
所述距离算出部使用第1影像算出所述第1距离信息,使用第2影像算出所述第2距离信息,
所述第1距离信息和所述第2距离信息分别包含修正参数,所述修正参数用于修正由环境光、所述被摄体的反射特性以及所述被摄体的颜色中的至少某一方产生的影响。
2.根据权利要求1所述的影像处理装置,其特征在于,
所述修正部算出所述修正参数和用于将所述相对尺度的三维坐标转换为实际尺度的三维坐标的尺度参数,以使所述第1距离信息和所述第2距离信息中的至少一方与所述相对尺度的三维坐标表示实际空间内的同一位置,
使用所述算出的修正参数和尺度参数来算出所述被摄体的实际尺度的三维坐标。
3.根据权利要求2所述的影像处理装置,其特征在于,
所述修正部根据所述算出的尺度参数和所述相对尺度的三维坐标来算出所述被摄体的实际尺度的三维坐标。
4.根据权利要求1所述的影像处理装置,其特征在于,
所述第1影像包含第1波长分量影像和第2波长分量影像,
所述第2影像包含第3波长分量影像和第4波长分量影像,
该影像处理装置还具备散景修正量算出部,所述散景修正量算出部算出用于将所述第1波长分量影像中包含的散景修正为所述第2波长分量影像中包含的散景的第1散景修正量,并算出用于将所述第3波长分量影像中包含的散景修正为所述第4波长分量影像中包含的散景的第2散景修正量,
所述距离算出部根据所述第1散景修正量来算出所述第1距离信息,并根据所述第2散景修正量来算出所述第2距离信息。
5.根据权利要求4所述的影像处理装置,其特征在于,
所述第1波长分量影像中包含的散景的形状和所述第2波长分量影像中包含的散景的形状中的至少一方为非点对称,
所述第3波长分量影像中包含的散景的形状和所述第4波长分量影像中包含的散景的形状中的至少一方为非点对称。
6.根据权利要求4或5所述的影像处理装置,其特征在于,
所述修正部使用所述第1距离信息和所述第2距离信息中的至少一方以及所述相对尺度的三维坐标,来算出所述修正参数和用于将所述相对尺度的三维坐标转换为实际尺度的三维坐标的尺度参数,
根据所述算出的修正参数和所述第1散景修正量、或者根据所述算出的修正参数和所述第2散景修正量,来算出所述被摄体的实际尺度的三维坐标。
7.根据权利要求6所述的影像处理装置,其特征在于,
所述修正部针对所述第1影像与所述第2影像的每一对应点而算出所述修正参数。
8.根据权利要求6所述的影像处理装置,其特征在于,
所述修正部针对所述第1影像上或所述第2影像上的具有类似颜色的每一区域而算出所述修正参数。
9.根据权利要求6所述的影像处理装置,其特征在于,
所述修正部算出对于所述第1影像上的多个像素和所述第2影像上的多个像素而言共通的所述修正参数。
10.一种测距装置,其特征在于,具备:
根据权利要求1至9中任一项所述的影像处理装置;以及
摄像部,其拍摄所述第1影像和所述第2影像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810214190.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于内孔检测的成像系统及装置
- 下一篇:光学测试方法及光学测试系统