[发明专利]一种基于数字对消的驻波比测试仪及其测试方法

说明书

本发明公开了一种基于数字对消的驻波比测试仪及其测试方法,所述系统包括数字信号处理单元、模拟信号处理单元和测试接口（7）；所述数字信号处理单元包括主控模块（1）、基带测试信号产生模块（2）、基带对消信号产生模块（12）和基带对消模块（13）；所述模拟信号处理单元包括DDS模块（3）、第一低通滤波器（4）、可变增益放大器VGA（5）、定向耦合器（6）、本振模块（8）、混频器（9）、第二低通滤波器（10）和ADC模块（11）。本发明只需要将部分耦合信号传输至接收端进行数字化，并进行发射信号对消和反射信号提取，即可在数字信号处理单元中计算出驻波比性能，定向耦合器没有隔离度要求，有利于减小驻波比测试仪的体积和成本。

技术领域

本发明涉及驻波比测试，特别是涉及一种基于数字对消的驻波比测试仪及其测试方法。

背景技术

常规驻波比测试装置一般通过定向耦合器获取待测设备反射回来的信号，利用能量检测模块计算反射信号能量，最后根据发射信号与反射信号能量之比，得到待测设备的驻波比性能。

但是，面向低频段(比如10kHz~30MHz)驻波比测量中，为了达到45dB及以上的收发隔离度，定向耦合器受制于磁芯和绕线圈材料的性能，体积和价格很难控制。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种基于数字对消的驻波比测试仪及其测试方法，只需要将部分耦合信号传输至接收端进行数字化，并进行发射信号对消和反射信号提取，即可在数字信号处理单元中计算出驻波比性能，定向耦合器没有隔离度要求，有利于减小驻波比测试仪的体积和成本。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种基于数字对消的驻波比测试仪，包括数字信号处理单元、模拟信号处理单元和测试接口；

所述数字信号处理单元包括主控模块、基带测试信号产生模块、基带对消信号产生模块和基带对消模块；所述模拟信号处理单元包括DDS模块、第一低通滤波器、可变增益放大器VGA、定向耦合器、本振模块、混频器、第二低通滤波器和ADC模块；

主控模块的输出端与基带测试信号产生模块连接，基带测试信号产生模块的输出端分别与基带对消信号产生模块和DDS模块连接，所述DDS模块通过第一低通滤波器与可变增益放大器VGA连接，所述可变增益放大器VGA通过定向耦合器与测试端口连接；所述混频器的第一输入端与定向耦合器的驻波反射输出端连接，混频器的第二输入端与本振模块连接，混频器的输出端通过第二低通滤波器与ADC模块连接，ADC模块的输出端分别与基带对消模块和基带对消信号产生模块连接；所述基带对消信号产生模块的输出端还与基带对消模块连接，基带对消模块的输出端与主控模块连接；所述主控模块还与基带对消信号产生模块连接；

所述主控模块，用于供用户进行校准或测试操作控制，并根据基带对消模块回传的信息进行驻波比计算，显示测试结果；

所述基带对消信号产生模块，用于在校准或测试过程中，产生对消信号供基带对消模块使用，并在校准过程中，根据主控模块的驻波比计算结果，完成对消信号时延调整。

所述主控模块包括：控制子模块，用于供用户向基带测试信号产生模块发出开始校准或开始测试的命令，控制基带信号产生模块产生基带测试的数字信号传输给DDS模块，形成对应频率的正弦波；驻波比计算子模块，用于根据基带对消模块回传的信号，进行驻波比计算；显示子模块，用于对驻波比计算结果进行显示。

所述的一种基于数字对消的驻波比测试仪的测试方法，包括以下步骤：