[发明专利]一种基于数字对消的驻波比测试仪及其测试方法

权利要求书

1.一种基于数字对消的驻波比测试仪，其特征在于：包括数字信号处理单元、模拟信号处理单元和测试接口（7）；

所述数字信号处理单元包括主控模块（1）、基带测试信号产生模块（2）、基带对消信号产生模块（12）和基带对消模块（13）；所述模拟信号处理单元包括DDS模块（3）、第一低通滤波器（4）、可变增益放大器VGA（5）、定向耦合器（6）、本振模块（8）、混频器（9）、第二低通滤波器（10）和ADC模块（11）；

主控模块（1）的输出端与基带测试信号产生模块（2）连接，基带测试信号产生模块（2）的输出端分别与基带对消信号产生模块（12）和DDS模块（3）连接，所述DDS模块（3）通过第一低通滤波器（4）与可变增益放大器VGA（5）连接，所述可变增益放大器VGA（5）通过定向耦合器（6）与测试接口（7）连接；所述混频器（9）的第一输入端与定向耦合器（6）的驻波反射输出端连接，混频器（9）的第二输入端与本振模块（8）连接，混频器（9）的输出端通过第二低通滤波器（10）与ADC模块（11）连接，ADC模块（11）的输出端分别与基带对消模块（13）和基带对消信号产生模块（12）连接；所述基带对消信号产生模块（12）的输出端还与基带对消模块（13）连接，基带对消模块（13）的输出端与主控模块（1）连接；所述主控模块（1）还与基带对消信号产生模块（12）连接；

所述主控模块（1），用于供用户进行校准或测试操作控制，并根据基带对消模块（13）回传的信息进行驻波比计算，显示测试结果；所述主控模块（1）包括：控制子模块，用于供用户向基带测试信号产生模块（2）发出开始校准或开始测试的命令，控制基带测试信号产生模块（2）产生基带测试的数字信号传输给DDS模块（3），形成对应频率的正弦波；驻波比计算子模块，用于根据基带对消模块（13）回传的信号，进行驻波比计算；显示子模块，用于对驻波比计算结果进行显示；

所述基带对消信号产生模块（12），用于在校准或测试过程中，产生对消信号供基带对消模块（13）使用，并在校准过程中，根据主控模块（1）的驻波比计算结果，完成对消信号时延调整：

驻波比测试仪校准时，在驻波比测试仪的测试接口上连接已知驻波比的标准阻抗，主控模块向基带测试信号产生模块发送开始校准的命令，控制基带测试信号产生模块产生基带测试的数字信号传输给DDS模块,并根据基带对消模块回传的驻波信息计算标准阻抗的驻波比，根据计算得到的驻波比信息，调整基带对消信号产生模块产生的对消信号时延，直至计算得到的驻波比信息与标准阻抗的已知驻波比最接近时，基带对消信号产生模块保存时延信息，完成驻波比测试仪校准。

2.根据权利要求1所述的一种基于数字对消的驻波比测试仪的测试方法，其特征在于:包括以下步骤：

S1.驻波比测试仪校准：在驻波比测试仪的测试接口（7）上连接已知驻波比的标准阻抗（14），主控模块（1）向基带测试信号产生模块（2）发送开始校准的命令，控制基带测试信号产生模块（2）产生基带测试的数字信号传输给DDS模块（3）,并根据基带对消模块（13）回传的驻波信息计算标准阻抗（14）的驻波比，根据计算得到的驻波比信息，调整基带对消信号产生模块（12）产生的对消信号时延，直至计算得到的驻波比信息与标准阻抗（14）的已知驻波比最接近时，基带对消信号产生模块（12）保存时延信息，完成驻波比测试仪校准；

S2.驻波比测试：在驻波比测试仪的测试接口（7）上连接待测设备，主控模块（1）向基带测试信号产生模块（2）发送开始测试的命令，控制基带测试信号产生模块（2）产生基带测试的数字信号传输给DDS模块（3）,基带对消信号产生模块（12）利用保存的时延信息生成对消信号，供驻波比测试使用，主控模块根据基带对消模块（13）回传的驻波信息计算待测设备的驻波比，并进行显示。