[发明专利]芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法在审
| 申请号： | 201810192257.X | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN108387838A | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | 王永胜;刘勤让;朱珂;沈剑良;宋克;吕平;张进;张波;李沛杰;毛英杰;张帆;王锐;何浩;李杨;赵玉林;虎艳宾;张霞 | 申请（专利权）人： | 天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 芯片测试 测试模式 参数数据 扫描数字 状态数据 读取 抓取 同步信号采集 内部寄存器 状态寄存器 参数测试 测试机台 测试难度 端口输出 端口信号 高速端口 工作正常 获取状态 启动芯片 输出同步 同步信号 芯片状态 预先设置 寄存器 数字IO 映射 测试 | ||
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述芯片预先设置有测试模式；所述方法包括：
启动所述芯片的测试模式；在所述测试模式下，所述芯片输出同步信号，用于端口信号的同步，且所述芯片的状态寄存器映射至数字IO；
根据所述同步信号采集端口输出的参数数据；
扫描所述数字IO获取所述状态寄存器的状态数据；
分别根据所述参数数据和所述状态数据确定所述芯片是否工作正常。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在启动所述芯片的测试模式的步骤之后，还包括：
启动所述芯片的Loopback功能。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述同步信号采集所述端口输出的参数数据的步骤，包括：
接收所述同步信号，并根据所述同步信号确定接收参数数据的起始时间；
按照所述起始时间抓取所述端口输出的参数数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别根据所述参数数据和所述状态数据确定所述芯片是否工作正常的步骤，包括：
通过比较所述参数数据与端口参数阈值确定所述芯片是否工作正常；
通过比较所述状态数据与芯片正常状态确定所述芯片是否工作正常。
5.一种芯片测试装置，其特征在于，所述芯片预先设置有测试模式；所述装置包括：
测试模式启动模块，用于启动所述芯片的测试模式；在所述测试模式下，所述芯片输出同步信号，用于端口信号的同步，且所述芯片的状态寄存器映射至数字IO；
参数数据获取模块，用于根据所述同步信号采集端口输出的参数数据；
状态数据获取模块，用于扫描所述数字IO获取所述状态寄存器的状态数据；
测试模块，用于分别根据所述参数数据和所述状态数据确定所述芯片是否工作正常。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
Loopback功能启动模块，用于启动所述芯片的Loopback功能。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述参数数据获取模块还用于：
接收所述同步信号，并根据所述同步信号确定接收参数数据的起始时间；
按照所述起始时间抓取所述端口输出的参数数据。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述测试模块还用于包括：
通过比较所述参数数据与端口参数阈值确定所述芯片是否工作正常；
通过比较所述状态数据与芯片正常状态确定所述芯片是否工作正常。
9.一种基于同步设计的芯片，其特征在于，所述芯片预先设置有测试模式；所述芯片包括：
数据同步触发模块，用于在测试模式下输出同步信号；
映射模块，用于在测试模式下将芯片的状态寄存器映射至数字IO。
10.一种设计芯片的方法，其特征在于，包括：
在芯片中增加测试模式；在所述测试模式下，所述芯片输出同步信号，且所述芯片的状态寄存器映射至数字IO。
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