[发明专利]一种提高TOF激光成像雷达测距精度的方法有效

专利信息
申请号: 201810189730.9 申请日: 2018-03-08
公开(公告)号: CN108594254B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 宋萍;刘殿敏;翟亚宇 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01S17/36 分类号: G01S17/36
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 代丽;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 tof 激光 成像 雷达 测距 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种提高TOF激光成像雷达测距精度的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1,分别采用高、中、低三个频段的调制激光对同一个目标进行激光测距,得到各调制激光对应的测量距离;

所述得到各调制激光对应的测量距离,具体为:

激光成像雷达采用8相位窗电荷累积的方式对回波信号进行电荷累积,得到不同相位的电荷累积,从而得到回波信号与发射调制激光信号之间的相位差,进而根据相位差计算出雷达与目标之间的距离;

其中,相位窗1的相位移动为0度;相位窗2的相位移动为180度;相位窗3的相位移动为90度;相位窗4的相位移动为270度;相位窗5的相位移动为180度;相位窗6的相位移动为0度;相位窗7的相位移动为270度;相位窗8的相位移动为90度;

所述相位差表示为:

其中,Q1~Q8分别为相位窗1~相位窗8的积分电荷;

步骤2,根据各调制激光的测距量程以及三个测量距离之间的比例关系,对三个测量距离进行融合,融合后的距离即为最终距离。

2.如权利要求1所述的提高TOF激光成像雷达测距精度的方法,其特征在于,高频、中频和低频调制激光的测量距离分别为d3、d2和d1,高频、中频和低频调制激光的测距量程分别为D3、D2和D1

首先判断d1和D3的大小,如果d1≤D3,则最终 距离d=d3;如果d1D3,则判断d1和D2的大小,如果d1≤D2,则最终距离d=m·D3+d3,其中,m=[d2/D3],“[]”表示取整;如果d1D2,则判断d1和D1的大小,如果d1≤D1,则最终 距离d=n·D2+m·D3+d3,其中,n=[d1/D2]。

3.如权利要求1所述的提高TOF激光成像雷达测距精度的方法,其特征在于,调制激光为正弦调制光或伪随机码调制光。

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