[发明专利]半导体器件在审
申请号: | 201810183015.4 | 申请日: | 2018-03-06 |
公开(公告)号: | CN108666309A | 公开(公告)日: | 2018-10-16 |
发明(设计)人: | 铃村直仁;青野英树 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/088 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉;张昊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 布线 半导体器件 方向延伸 栅电极 半导体层 布线耦合 串联耦合 电源电位 热量消散 输出 | ||
1.一种半导体器件,包括2输入NAND电路,所述2输入NAND电路包括:
第一P沟道FET和第二P沟道FET,并联耦合在第一电源电位布线和输出布线之间;
第一N沟道FET和第二N沟道FET,串联耦合在所述输出布线和第二电源电位布线之间;
第一输入布线,耦合至所述第一P沟道FET的第一P栅电极和所述第一N沟道FET的第一N栅电极;以及
第二输入布线,耦合至所述第二P沟道FET的第二P栅电极和所述第二N沟道FET的第二N栅电极,包括:
半导体衬底,具有主表面;
元件隔离膜,形成在所述半导体衬底的所述主表面上;
第一半导体层,穿过所述元件隔离膜,从所述半导体衬底的所述主表面突出,并且在平面图中沿第一方向延伸;
所述第一N栅电极和所述第二N栅电极,通过第一栅极绝缘膜设置在所述第一半导体层之上,并且沿垂直于所述第一方向的第二方向延伸;
第一局部布线,沿所述第一方向设置在所述第一N栅电极和所述第二N栅电极之间,并且沿所述第二方向延伸;
第一层间绝缘膜,形成在所述半导体衬底的所述主表面之上,覆盖所述第一N栅电极和所述第二N栅电极,露出所述第一局部布线的主表面并邻接在其侧壁上;
第二层间绝缘膜,设置在所述第一层间绝缘膜之上;以及
第一布线,耦合至所述第一局部布线并且设置在所述第二层间绝缘膜之上。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:
第二局部布线,沿所述第一方向设置为相对于所述第二N栅电极与所述第一局部布线相对,与所述第一半导体层交叉,并且沿所述第二方向延伸;以及
第三局部布线,沿所述第一方向设置为相对于所述第一N栅电极与所述第一局部布线相对,与所述第一半导体层交叉,并且沿所述第二方向延伸,
其中所述第二局部布线耦合至所述第二电源电位布线,并且
其中所述第三局部布线耦合至所述输出布线。
3.根据权利要求2所述的半导体器件,还包括:
第一半导体区域,形成在所述第一半导体层中并耦合至所述第一局部布线;
第二半导体区域,形成在所述第一半导体层中并耦合至所述第二局部布线;以及
第三半导体区域,形成在所述第一半导体层中并耦合至所述第三局部布线。
4.根据权利要求2所述的半导体器件,还包括:
第二半导体层,穿过所述元件隔离膜,从所述半导体衬底的所述主表面突出,并且沿所述第一方向延伸且在平面图中沿所述第二方向与所述第一半导体层隔开,
其中所述第一P栅电极和所述第二P栅电极通过第二栅极绝缘膜设置在所述第二半导体层之上,并且沿所述第二方向延伸,
其中所述第一P栅电极和所述第一N栅电极设置在沿所述第二方向延伸的虚拟第一直线上,并且
其中所述第二P栅电极和所述第二N栅电极设置在沿所述第二方向延伸的虚拟第二直线上。
5.根据权利要求4所述的半导体器件,还包括:
第四局部布线,沿所述第一方向设置在所述第一P栅电极和所述第二P栅电极之间,并且沿所述第二方向延伸;
第五局部布线,沿所述第一方向设置为相对于所述第二P栅电极与所述第四局部布线相对,与所述第二半导体层交叉,并且沿所述第二方向延伸;以及
第六局部布线,沿所述第一方向形成为相对于所述第一P栅电极与所述第四局部布线相对,与所述第二半导体层交叉,并且沿所述第二方向延伸,
其中所述第四局部布线耦合至所述输出布线,并且
其中所述第五局部布线和所述第六局部布线耦合至所述第一电源电位布线。
6.根据权利要求5所述的半导体器件,
其中所述第一局部布线和所述第四局部布线设置在沿所述第二方向延伸的虚拟第三直线上,
其中所述第二局部布线和所述第五局部布线设置在沿所述第二方向延伸的虚拟第四直线上,并且
其中所述第三局部布线和所述第六局部布线设置在沿所述第二方向延伸的虚拟第五直线上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810183015.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:柔性集成封装系统
- 下一篇:半导体存储装置及其形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的