[发明专利]磁盘装置和写入方法

说明书

根据一个实施例，磁盘装置包括磁盘和控制器，该控制器基于磁盘的第一偏心率计算第一校正值，并且基于第一校正值写入第一磁道，其中当控制器中断用于写入第二磁道的处理以便在第一位置重叠第一磁道时，控制器测量磁盘的第二偏心率，并比较第一偏心率与第二偏心率，以及当第一偏心率与第二偏心率不同时，控制器重新开始用于从在径向方向远离第一位置的第二位置写入第二磁道的处理。

相关申请的交叉引用

本申请基于2017年3月7日提交的日本专利申请No.2017-43013，并要求其的优先权，其全部内容通过引用结合于此。

技术领域

在此描述的实施例一般涉及磁盘装置和写入方法。

背景技术

近年来，已经开发了各种用于提高磁盘装置的存储容量的技术。在其中一种技术中，磁盘装置使用叠瓦式磁记录(SMR)来写入数据。在叠瓦式磁记录中，磁盘装置将数据写入磁盘，使得当前磁道与先前写入的相邻磁道(以下简称为相邻磁道)的一部分重叠。与正常记录相比，当磁盘装置通过叠瓦式磁记录来写入数据时，磁盘的磁道密度(每英寸磁道数：TPI)可被提高。

在磁盘装置中，通常由于例如磁盘和主轴电机的附着误差而产生磁盘偏心率。当磁盘偏心率产生时，会发生动态偏移(DO)。具体地，当磁盘进行一个回转时，读取/写入偏移值在单个磁道内改变。因此，在磁盘装置中，在写入处理中执行调节R/W偏移值的写入动态偏移控制(WDOC)以控制动态偏移。当磁盘装置执行WDOC时，装置测量偏心率，基于测量的偏心率计算校正值，并且基于计算的校正值执行WDOC。磁盘的偏心率状态可以通过外部冲击等而改变。当磁盘的偏心率的状态已被改变，磁盘装置再次测量偏心率，基于测量的偏心率计算校正值，并且基于计算的校正值执行WDOC。

在利用叠瓦式磁记录的磁盘装置中，当校正值在磁盘的偏心率的状态改变之前和之后不同时，写入相邻磁道的数据可能被擦除。

发明内容

通常，根据一种实施例，磁盘装置包括：磁盘；磁头，其将数据写入磁盘并从磁盘读取数据；以及控制器，其基于磁盘的第一偏心率计算第一校正值，基于第一校正值将第一磁道写入第一目标位置，以及基于第一校正值将第二磁道写入第二目标位置以便重叠第一磁道，该第二目标位置在根据径向方向的第一方向中与第一目标位置相距第一距离，其中当控制器中断用于写入第二磁道以便在第二磁道的第一位置重叠第一磁道的处理并重新开始从第一位置写入第二磁道的处理时，控制器测量磁盘的第二偏心率并比较第一偏心率与第二偏心率，以及当第一偏心率与第二偏心率不同时，控制器重新开始用于从与第一方向中的第一位置相距第二距离的第二位置写入第二磁道的处理。

根据本发明，可以提供具有改进的可靠性的磁盘装置。

附图说明

图1是示出根据一个实施例的磁盘装置的配置的框图。

图2是示出用于写入数据的叠瓦式磁记录区域的示例的示意图。

图3A是示出当不发生R/W偏移时磁头的状态的示例的示意图。

图3B是示出当发生R/W偏移时磁头的状态的示例的示意图。

图4是示出用于写入数据的处理的控制的示例的示意图。

图5示出从带区中的磁道的中间位置重新开始的写入处理的示例。

图6示出根据实施例的从带区中的磁道的中间位置重新开始的写入处理的示例。

图7是示出根据实施例的用于测量磁盘装置中的偏心率的处理的示例的流程图。

图8是示出根据实施例的磁盘装置的写入操作的示例的流程图。

图9是示出根据实施例的用于确认写入数据的路径的处理的示例的流程图。

具体实施方式