[发明专利]一种用于检测GOA电路失效的电路及方法、显示面板

说明书

本发明提供一种用于检测GOA电路失效的电路及方法、显示面板，该电路包括：多个第一薄膜晶体管、多个第二薄膜晶体管以及多个允许信号单向流通的单向导通模块；第一薄膜晶体管的源极和漏极分别与GOA电路的输出端以及第二薄膜晶体管的栅极连接，第一薄膜晶体管的栅极用于接入控制第一薄膜晶体管打开或者关断的控制信号；第二薄膜晶体管的源极接入时钟信号或者反相时钟信号，第二薄膜晶体管的漏极通过单向导通模块连接至用于信号检测的成盒检测装置；多个第一薄膜晶体管的漏极与多个第二薄膜晶体管的栅极一一对应连接，多个第二薄膜晶体管的栅极与多个单向导通模块一一对应连接。本发明可以增加GOA电路中GOA单元的异常检出率，减少了GOA电路的修复难度。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种用于检测GOA电路失效的电路及方法、显示面板。

背景技术

GOA(Gate on Array，阵列基板行驱动)技术是将作为栅极开关电路的TFT(ThinFilm Transistor，薄膜场效应晶体管，简称薄膜晶体管)集成于阵列基板上，从而省掉原先设置在阵列基板外的栅极驱动集成电路部分，从材料成本和工艺步骤两个方面来降低产品的成本。GOA技术是目前TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)技术领域常用的一种栅极驱动电路技术，其制作工艺简单，具有良好的应用前景。GOA电路包括多个级联的GOA单元，GOA电路的功能主要包括：利用上一行栅极线输出的高电平信号对移位寄存器单元中的电容充电，并驱动本级的上拉薄膜晶体管打开，将时钟信号一个脉冲传递到本级的栅极线上，以开启显示面板上与当级GOA单元相连的扫描线。如附图1所示，为M级GOA单元级传电路模块示意图，CK为时钟信号，XCK为反相时钟信号，Vgl为低电位信号，Vgh为高电位信号；如附图2所示，为现有技术中M级GOA单元失效检测方案示意图，图2中通过将最后一级GOA单元(即第M级GOA单元)的输出连接至成盒检测装置的端子上，这样可以在成盒检测时，通过探测其最后一级的GOA单元输出波形来判断GOA电路的好坏。但是，目前设计的GOA失效检测方案只能检测到最后一级的GOA单元电路的输出，而整个GOA电路是由M级GOA单元电路级联而成，若GOA电路的中间某级GOA单元失效，也会导致最后一级GOA单元的输出异常，但我们并不能够因此判断出是哪一级GOA单元电路失效。这样就会增加GOA电路修复的难度。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种用于检测GOA电路失效的电路及方法、显示面板，可以增加GOA电路中GOA单元的异常检出率，减少了GOA电路的修复难度。

本发明提供的一种用于检测GOA电路失效的电路，包括：多个第一薄膜晶体管、多个第二薄膜晶体管以及多个允许信号单向流通的单向导通模块；

其中，所述第一薄膜晶体管的源极和漏极分别与GOA电路的输出端以及所述第二薄膜晶体管的栅极连接，所述第一薄膜晶体管的栅极用于接入控制所述第一薄膜晶体管打开或者关断的控制信号；

所述第二薄膜晶体管的源极接入时钟信号或者反相时钟信号，所述第二薄膜晶体管的漏极通过所述单向导通模块连接至用于信号检测的成盒检测装置；

所述多个第一薄膜晶体管的漏极与所述多个第二薄膜晶体管的栅极之间一一对应连接，所述多个第二薄膜晶体管的栅极与多个所述单向导通模块之间一一对应连接。

优选地，所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管以及所述单向导通模块的数量与所述GOA电路中GOA单元的级数相同。

优选地，所述单向导通模块包括第三薄膜晶体管；

所述第三薄膜晶体管的栅极和源极连接且所述第三薄膜晶体管的源极与所述第二薄膜晶体管的漏极连接，所述第三薄膜晶体管的漏极与所述成盒检测装置连接。

优选地，所述用于检测GOA电路失效的电路中的薄膜晶体管均为P沟道的薄膜晶体管或者N沟道的薄膜晶体管；

所述控制信号为高电位电压信号或者低电位电压信号。