[发明专利]一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法在审
申请号: | 201810140129.0 | 申请日: | 2018-02-11 |
公开(公告)号: | CN108344749A | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
发明(设计)人: | 邢志广;姚毅;赵严;周钟海;刘朝朋;邹美芳 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术集团有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相机 液晶屏 盖板玻璃 镜头平面 分层检测 底片 检测图像 同一直线 相机对焦 上表面 延长面 中心点 视场 拍照 相交 覆盖 | ||
本发明公开了一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法,在被测液晶屏的盖板玻璃上方设置两台相机,两台相机的视场均各自覆盖整个液晶屏范围;确定两台相机中第一相机的镜头平面和第二相机的镜头平面与盖板玻璃之间的夹角分别为第一角度和第二角度;确定第一相机和第二相机的镜头平面的中心点与盖板玻璃之间的距离为第一距离和第二距离;分别将两台相机对焦到被测液晶屏的盖板玻璃上表面;分别调节两台相机的镜头平面和底片之间的第三角度和第四角度,使得两台相机均满足以下条件:被测液晶屏的盖板玻璃表面、两台相机各自的底片和两台相机各自的镜头平面的延长面相交于同一直线时,使用两台相机对被测液晶屏拍照,得到两个检测图像。
技术领域
本发明涉及液晶屏缺陷检测技术领域,尤其涉及一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法。
背景技术
液晶屏是以液晶材料为基本组件,通过改变电压来改变液晶材料内部分子排列从而产生遮光和透光效果,进而图像显示的设备。随着人们对液晶屏的需求的持续升高,液晶屏已形成了规模巨大的产业。
如图1所示,为一种目前常用的液晶屏结构示意图,所述液晶屏在深度方向上,从内至外依次包括背光层1、下偏光片2、TFT基板3、液晶层4、上偏光片5、盖板玻璃6。其中背光层1为发光源提供光线,由背光层1发出的光线经过下偏光片2偏光产生偏振光,TFT基板3控制信号电压,并将信号电压施加到液晶层4进而控制液晶分子的偏转角度,此时下偏光片2和上偏光片5控制让光线单方向通过,最终通过盖板玻璃6显示。由于液晶屏结构的复杂性,在生产中可能会形成缺陷。例如,在为背光层1上,下偏光片2与TFT基板3之间,TFT基板3与液晶层4之间,液晶层4与上偏光片5之间,上偏光片5与盖板玻璃6之间的五种位置可能会存在点类缺陷。基于对液晶屏的生产和品质管理的需求,需要精确定位点类缺陷所在的位置,以根据确定后的点类缺陷位置制定不同的修复缺陷的方案。
对液晶屏点类缺陷检测一般采用光学检测方法,其中包括单相机成像的方法。将单相机的镜头对准液晶屏的表面,即盖板玻璃6的表面对整个液晶屏的范围成像。假设点类缺陷是在上述五种位置的任意位置存在灰尘的话,成的像的表现形式为黑画面下的亮点,或者白画面下的暗点。这个暗点或者亮点代表灰尘。但是,通过单相机成像的方法无法判断灰尘存在于液晶屏的哪个深度位置。
发明内容
本申请提供了一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法,以解决液晶屏在进行缺陷检测时,无法确定缺陷在液晶屏中具体层级的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明实施例公开了如下技术方案:
一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法,包括以下步骤:
在被测液晶屏的盖板玻璃上方设置两台相机,所述两台相机的视场均各自覆盖整个液晶屏范围;
确定所述两台相机中第一相机的镜头平面和第二相机的镜头平面与所述盖板玻璃之间的夹角分别为第一角度和第二角度;
确定所述第一相机和第二相机的镜头平面的中心点与所述盖板玻璃之间的距离为第一距离和第二距离;
分别将所述两台相机对焦到所述被测液晶屏的盖板玻璃上表面;
分别调节所述两台相机的镜头平面和底片之间的第三角度和第四角度,使得所述两台相机均满足以下条件:所述被测液晶屏的盖板玻璃表面、所述两台相机各自的底片和所述两台相机各自的镜头平面的延长面相交于同一直线时,使用两台相机对所述被测液晶屏拍照,得到两个检测图像。
优选地,在被测液晶屏的盖板玻璃上方对称设置两台相机,所述两台相机的视场均各自覆盖整个所述被测液晶屏范围,所述第一角度和第二角度相等,所述第一距离和第二距离相等,所述第三角度和第四角度相等。
优选地,所述第一角度和第二角度均为45°。
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