[发明专利]一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法

权利要求书

1.一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

在被测液晶屏的盖板玻璃上方设置两台相机，所述两台相机的视场均各自覆盖整个液晶屏范围；

确定所述两台相机中第一相机的镜头平面和第二相机的镜头平面与所述盖板玻璃之间的夹角分别为第一角度和第二角度；

确定所述第一相机和第二相机的镜头平面的中心点与所述盖板玻璃之间的距离为第一距离和第二距离；

分别将所述两台相机对焦到所述被测液晶屏的盖板玻璃上表面；

分别调节所述两台相机的镜头平面和底片之间的第三角度和第四角度，使得所述两台相机均满足以下条件：所述被测液晶屏的盖板玻璃表面、所述两台相机各自的底片和所述两台相机各自的镜头平面的延长面相交于同一直线时，使用两台相机对所述被测液晶屏拍照，得到两个检测图像。

2.根据权利要求1所述的基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，在被测液晶屏的盖板玻璃上方对称设置两台相机，所述两台相机的视场均各自覆盖整个所述被测液晶屏范围，所述第一角度和第二角度相等，所述第一距离和第二距离相等，所述第三角度和第四角度相等。

3.根据权利要求2所述的基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，所述第一角度和第二角度均为45°。

4.根据权利要求1所述的基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，还包括：

根据两个检测图像的点类缺陷的成像信息，将两个检测图像中的点类缺陷配对，对于同一点类缺陷，判断所述两个检测图像中所述点类缺陷是否存在相对位移，如果否，则点类缺陷位于盖板玻璃的上表面。

5.根据权利要求4所述的基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，对于同一点类缺陷，如果所述两个检测图像中所述点类缺陷存在相对位移，则继续判断所述点类缺陷的位置；

对于同一点类缺陷，如果液晶屏上方设置的左侧相机的检测图像中，所述点类缺陷向左边偏移，且右侧相机的检测图像中，所述点类缺陷向右边偏移，则所述缺陷在液晶屏盖板玻璃上表面的下方。

6.根据权利要求5所述基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，对于同一点类缺陷，如果所述两个检测图像中所述点类缺陷存在相对位移，根据同一点类缺陷之间的相对距离确定点类缺陷在液晶屏中的具体层级。

7.根据权利要求6所述基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，根据两个检测图像的点类缺陷的成像信息，将两个检测图像中的点类缺陷的对应关系进行匹配，计算点类缺陷之间的相对偏移距离将两个检测图像中的点类缺陷进行匹配。

8.根据权利要求2所述的基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，被测液晶屏的厚度大于或等于0.1mm，宽度小于或等于88mm，长度小于或等于132mm。

9.根据权利要求1所述基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法，其特征在于，分别调节所述两台相机的镜头平面和底片之间的第三角度和第四角度，使得两台相机均满足以下条件：被测液晶屏的盖板玻璃表面、各自的底片和各自的镜头平面的延长面相交于同一直线时，使用两台相机对液晶屏拍照，得到两个检测图像，其中，所述第三角度和第三角度的调节精度为0.01°。