[发明专利]一种基于显示面板的薄膜间隙的检测装置以及方法有效
申请号: | 201810114708.8 | 申请日: | 2018-02-05 |
公开(公告)号: | CN108362213B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 刘圣 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 显示 面板 薄膜 间隙 检测 装置 以及 方法 | ||
本申请提出了一种基于显示面板的薄膜间隙的检测装置以及检测方法。该检测装置包括:激光光源、聚焦透镜、样品移动装置以及数据采集装置;其中,聚焦透镜设置于激光光源的光线传输路径上,样品移动装置用于放置待检测显示面板,与聚焦透镜的出光面与显示面板覆盖薄膜层的一侧相对设置,以使薄膜层接收激光光源发射的经聚焦透镜聚焦的激光后,将激光散射透过薄膜层到基板下表面的激光束,并通过基板下表面反射透过薄膜层,而在薄膜层上形成光圈;数据采集装置用于采集光圈的图像信息,并判断光圈是否存在暗点以确定薄膜层与基板之间是否存在间隙。使用上述检测装置,有利于快速、无损地检测显示面板的薄膜和基板之间是否存在空气间隙。
技术领域
本申请涉及薄膜检测领域,具体涉及一种基于显示面板的薄膜间隙的检测装置以及方法。
背景技术
目前,由于显示面板里面的有机发光材料对水和氧及其敏感,因此,显示面板在制备完成后需要对显示面板进行多层有机/无机薄膜封装处理。封装处理的效果,将直接影响到显示面板的使用寿命。
如果在进行多层有机/无机薄膜封装处理过程中,薄膜和基板间存在气泡或发生劈裂分层现象,将严重影响显示面板的封装效果,从而降低显示面板的使用寿命;同时,如果薄膜和基板间存在空气间隙,也将降低器件的出光率。
发明内容
本申请提供一种基于显示面板的薄膜间隙的检测装置以及方法,以解决现有技术中无法检测显示面板的薄膜间隙的问题。
为解决上述技术问题,本申请提供一种基于显示面板的薄膜间隙的检测装置,显示面板包括器件层以及覆盖在器件层基板表面的薄膜层,该检测装置包括:激光光源、聚焦透镜、样品移动装置以及数据采集装置;其中,聚焦透镜设置于激光光源的光线传输路径上,样品移动装置用于放置待检测显示面板,与聚焦透镜的出光面与显示面板覆盖薄膜层的一侧相对设置,以使薄膜层接收激光光源发射的经聚焦透镜聚焦的激光后,将激光散射透过薄膜层到基板下表面的激光束,并通过基板下表面反射透过薄膜层,而在薄膜层上形成光圈;数据采集装置用于采集光圈的图像信息,并判断光圈是否存在暗点以确定薄膜层与基板之间是否存在间隙。
为解决上述技术问题,本申请还提供一种基于显示面板的薄膜间隙的检测方法,显示面板包括器件层以及覆盖在器件基板表面的薄膜层,该检测方法包括:通过聚焦透镜对激光光源产生的激光聚焦到待检测显示面板覆盖薄膜层的一侧表面上,以使薄膜层接收激光光源发射的经聚焦透镜聚焦的激光后,将激光散射透过薄膜层折射到基板下表面的激光束,并通过基板下表面反射透过薄膜层,而在薄膜层上形成光圈;其中聚焦透镜设置于激光光源的光线传输路径上,待检测显示面板放置与样品移动装置上;通过数据采集装置采集光圈的图像信息,并判断光圈是否存在暗点以确定薄膜层与基板之间是否存在间隙。
在本申请中,激光由激光光源射出,垂直照射在聚焦透镜上;激光经过聚焦透镜聚焦,照射在显示面板表面;激光在显示面板表面散射透过薄膜层形成具有一定角度的激光束;激光束中的部分光线在基板下表面反射到基板上表面,并透过薄膜层,从而在薄膜层上形成光圈;数据采集装置采集光圈的图像信息,并检测光圈内是否存在暗点,若存在暗点,则薄膜层与基板之间存在间隙;若不存在暗点,则薄膜层与基板之间不存在间隙。采用上述方法,可以有利于快速、无损地检测显示面板的薄膜和基板之间是否存在空气间隙。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:
图1是本申请基于显示面板的薄膜间隙的检测装置一实施例的结构示意图;
图2为图1待检测显示面板在样品移动装置上的运动方式一实施例的剖面示意图;
图3为图1基于显示面板的薄膜间隙的检测装置的光线传播一实施例的剖面示意图;
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