[发明专利]测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统

说明书

本发明涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度，根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。上述技术方案，通过计算天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度，使得将天线口径和扫描架间的平行度的计算转换为天线口径面和扫描架测量面的平行度的计算，从而确定天线口径和扫描架的平行状态。

技术领域

本发明涉及天线近场测量技术领域，特别是涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

背景技术

平面近场测试仪是通过测试天线近场幅相数据推算远场电磁特性的一类重大专业科学仪器设备，是雷达、通信、导航等诸多领域的微波天线研究与测试的必要手段。常规的平面近场测试系统分为四个部分，发射模块，采样模块，接收模块和数据分析及处理模块。其中采样模块负责在一个平面的若干点上接收来自发射模块的信号，并将之传递给接收模块，由接收模块提取幅度和相位信息后传递给数据分析及处理模块，推算出天线的远场特性。

实际应用中，为了让采样模块中的扫描架能准确获取发射模块中的待测天线发射的信号，一般要求待测天线口径与扫描架维持在一定平行度内。传统应用是借助经纬仪或全站仪等测量仪器保证扫描架水平方向和垂直方向上的精确，进而确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。但是，要确定天线口径与扫描架间的平行度存在一定的难度。首先，得保证扫描架位置的精准安装，因此，在安装扫描架时需要借助经纬仪，而且对施工人员的技术水平也要求很高；其次，即使在施工中保证了扫描架位置的精度，由于待测天线需要经常进行更换，也难以根据所述天线口径与所述扫描架间的平行度，确保扫描架时刻与待测天线口径维持在一定的平行度内。最后，并不是所有的扫描架都采用固定机座的安装方式，在一些特殊发的应用场景下，扫描架是采用移动式的安装方式，而在这种情况下，更加难以确保天线口径与扫描架保持平行状态。

发明内容

基于此，有必要针对难以确保扫描架与天线口径维持平行状态的问题，提供一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，包括：

获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；

计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；

根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

在其中一个实施例中，在根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度步骤之后，还包括：根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。

在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。

在其中一个实施例中，所述计算所述第一平面和所述第二平面的平行度的步骤，包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。