[发明专利]测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统

权利要求书

1.一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，包括：

获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；

计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；具体包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度；其中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、第二扫描架测量点和第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上；

所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：

获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；

获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；

根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度；

根据计算的所述第一平面和所述第二平面的平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

2.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，在根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度步骤之后，还包括：

根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。

3.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。

4.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述计算所述第一平面与所述第二平面在垂直方向上的平行度的步骤，包括：

获取所述第二天线测量点与所述第三扫描架测量点的第六测量距离，获取所述第二扫描架测量点与第三扫描架测量点间的第七测量距离；根据所述第五测量距离、第六测量距离和第七测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第三直线距离；

获取所述第三天线测量点与所述第二扫描架测量点的第八测量距离，获取所述第三天线测量点与所述第三扫描架测量点的第九测量距离；根据所述第七测量距离、第八测量距离和第九测量距离，计算所述第三天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第四直线距离；

根据所述第三直线距离和所述第四直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面垂直方向上的平行度。