[发明专利]信号检测电路和信号检测方法有效

专利信息
申请号: 201810077145.X 申请日: 2018-01-26
公开(公告)号: CN108365869B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 羽深贵光 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: H04B1/707 分类号: H04B1/707;H04B1/7075
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 闫小龙;郑冀之
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 信号 检测 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种信号检测电路,根据对通过使用了扩频序列的扩频通信发送的信号进行接收而得到的接收信号基于所述扩频序列来得到接收数据,所述信号检测电路的特征在于,具有:

相关电路,由依次作为第一级~第n级的相关器连接且根据所述扩频序列的码片速率周期将所述接收信号向下级移位并分别计算所述接收信号与所述扩频序列的相关值的第一~第n相关器构成,其中,n为3以上的整数;

第一加法运算器,将所述相关电路的第一~第j相关器之中的包含所述第j相关器的k个相关器计算出的k个相关值相加来计算第一加法运算值,其中,j为1jn-2的整数,k为1k≤j的整数;

第二加法运算器,将所述相关电路的第一~第p相关器之中的包含所述第p相关器的r个相关器计算出的r个相关值相加来计算第二加法运算值,其中,p为jp≤n的整数,r为kr≤p的整数;

减法运算器,从所述第二加法运算值减去所述第一加法运算值来计算减法运算值;以及

同步检测部,将所述减法运算值与阈值比较,根据比较结果来对所述扩频序列和所述接收信号的同步定时进行检测。

2.根据权利要求1所述的信号检测电路,其特征在于,所述k个相关器为连续连接的相关器,所述r个相关器为连续连接的相关器。

3.根据权利要求1或2所述的信号检测电路,其特征在于,所述r个相关器之中的排头的相关器为比所述第j相关器后级的相关器。

4.根据权利要求1或2所述的信号检测电路,其特征在于,所述k个相关器由第一~第k相关器构成,所述r个相关器由第(n-r+1)~第n相关器构成。

5.根据权利要求1或2所述的信号检测电路,其特征在于,所述相关电路包含比所述第j相关器后级且不属于所述k个相关器和所述r个相关器任一方的至少1个相关器。

6.根据权利要求1或2所述的信号检测电路,其特征在于,所述第一加法运算器将连续的2s个相关器的相关值作为所述k个相关值相加,所述第二加法运算器将连续的2t个相关器的相关值作为所述r个相关值相加,其中,s为自然数,t为ts的自然数。

7.根据权利要求1或2所述的信号检测电路,其特征在于,所述第二加法运算器相加的相关值的数量即r个比所述第一加法运算器相加的相关值的数量即k个大2以上。

8.一种信号检测方法,所述方法是信号检测电路的信号检测方法,所述信号检测电路根据对通过使用了扩频序列的扩频通信发送的信号进行接收而得到的接收信号基于所述扩频序列来得到接收数据,所述方法的特征在于,包含:

将根据所述扩频序列的码片速率周期移位的n位的量的所述接收信号与所述扩频序列的相关值计算为第一~第n相关值的步骤,其中,n为3以上的整数;

将所述第一~第j相关值之中的包含所述第j相关值的k位的量的相关值相加来计算第一加法运算值的步骤,其中,j为1jn-2的整数,k为1k≤j的整数;

将所述第一~第p相关值之中的包含所述第p相关值的r位的量的相关值相加来计算第二加法运算值的步骤,其中,p为jp≤n的整数,r为kr≤p的整数;

从所述第二加法运算值减去所述第一加法运算值来计算减法运算值的步骤;以及

将所述减法运算值与阈值比较并且根据比较结果来对所述扩频序列和所述接收信号的同步定时进行检测的步骤。

9.根据权利要求8所述的信号检测方法,其特征在于,

所述第一加法运算值为将作为连续的k位的量的相关值的第(j-k+1)~第j相关值相加后的加法运算值,

所述第二加法运算值为将作为连续的所述r位的量的相关值的第(p-r+1)~第p相关值相加后的加法运算值。

10.根据权利要求8或9所述的信号检测方法,其特征在于,所述r位的量的相关值之中的排头的相关值为与比所述第j相关值后级的位对应的相关值。

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