[发明专利]一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法

说明书

本发明公开一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法，涉及显示技术领域，以提高发光器件的非本质老化不良检出率。该发光器件缺陷检测电路包括电源信号调节单元、数据信号调节单元、第一初始信号调节单元，第二初始信号调节单元以及与驱动晶体管的控制端连接的存储电容；存储电容在电源信号、数据信号和初始信号的作用下控制驱动晶体管关断，使得第二初始信号调节单提供初始信号给发光单元，使得发光单元发光。所述显示驱动装置包括上述技术方案所提的发光器件缺陷检测电路。本发明提供的发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法用于检测发光器件非本质老化。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法。

背景技术

目前，有源矩阵有机发光二极体(Active-matrix organic light emittingdiode，缩写为AMOLED)显示装置在量产过程中，利用封装工艺封装发光器件，以保护发光器件，但这也使得水蒸气有机会进入发光器件中，从而导致发光器件的部分区域出现非本质老化，从而降低发光器件的发光效率。

发明人利用显微镜观察AMOLED显示装置中发生非本质老化的发光器件，发现发光器件的阴极发生如图1中虚线所示的腐蚀问题，这种现象被称为发光器件阴极收缩现象。而由于发光器件在短时间内非本质老化程度比较轻微，但是随着时间的增加，发光器件的非本质老化程度会越来越严重。因此，在非本质老化发生的初期，很难检测出AMOLED显示装置中发生非本质老化的发光器件。

发明内容

本发明的目的在于提供一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法，以提高发光器件的非本质老化不良检出率。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种发光器件缺陷检测电路，包括：存储电容和发光单元；所述存储电容的第一极板分别连接电源信号调节单元和数据信号调节单元；所述存储电容第二极板分别连接第一初始信号调节单元和驱动晶体管的控制端，所述驱动晶体管的输入端连接第一电源信号端子，所述驱动晶体管的输出端和第二初始信号调节单元分别连接发光单元，所述发光单元与第二电源信号端子连接；

同一时刻，在重置信号的控制下，所述电源信号调节单元用于将电源信号提供给所述存储电容的第一极板，所述第一初始信号调节单元用于将初始信号提供给所述存储电容的第二极板；在扫描信号的控制下，所述数据信号调节单元用于将数据信号提供给所述存储电容的第一极板，所述第二初始信号调节单元用于将初始信号提供给所述发光单元；所述存储电容用于在所述电源信号、所述初始信号和所述数据信号的作用下控制所述驱动晶体管关断，使得所述发光单元根据所述初始信号发光。

与现有技术相比，本发明提供的发光器件缺陷检测电路中，存储电容的第一极板分别连接电源信号调节单元和数据信号调节单元，存储电容第二极板分别连接第一初始信号调节单元和驱动晶体管的控制端连接，驱动晶体管的输入端连接第一电源信号端子，驱动晶体管的输出端和第二初始信号调节单元分别连接发光单元，而由于同一时刻，在重置信号的控制下，电源信号调节单元将电源信号提供给存储电容的第一极板，第一初始信号调节单元将初始信号提供给存储电容的第二极板；在扫描信号的控制下，数据信号调节单元将数据信号提供给存储电容的第一极板，第二初始信号调节单元将初始信号提供给发光单元，使得存储电容在电源信号、初始信号和数据信号的作用下控制驱动晶体管关断，而发光单元能够在初始信号的控制下发光；因此，本发明提供的发光器件缺陷检测电路在检测发光器件缺陷时，无需通过重置阶段和扫描阶段就能实现发光单元中发光器件的发光，而是利用第二初始信号调节单元提供的初始信号直接控制发光单元发光，从而提高对发光单元的电子注入效率，这使得本发明提供的发光器件缺陷检测电路应用于OLED显示装置后，可利用发光器件缺陷检测电路提高对发光单元的电子注入效率，使得发光单元中发光器件的阴极在出现轻微腐蚀时，能够通过点灯测试很容易检测出来，从而提高发光器件的非本质老化不良检出率。