[发明专利]一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法

权利要求书

1.一种发光器件缺陷检测电路，其特征在于，包括：存储电容和发光单元；所述存储电容的第一极板分别连接电源信号调节单元和数据信号调节单元；所述存储电容第二极板分别连接第一初始信号调节单元和驱动晶体管的控制端，所述驱动晶体管的输入端连接第一电源信号端子，所述驱动晶体管的输出端和第二初始信号调节单元分别连接发光单元，所述发光单元与第二电源信号端子连接；

同一时刻，在重置信号的控制下，所述电源信号调节单元用于将电源信号提供给所述存储电容的第一极板，所述第一初始信号调节单元用于将初始信号提供给所述存储电容的第二极板；在扫描信号的控制下，所述数据信号调节单元用于将数据信号提供给所述存储电容的第一极板，所述第二初始信号调节单元用于将初始信号提供给所述发光单元；所述存储电容用于在所述电源信号、所述初始信号和所述数据信号的作用下控制所述驱动晶体管关断，使得所述发光单元根据所述初始信号发光。

2.根据权利要求1所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述同一时刻，所述电源信号的电压为0，所述数据信号的电压为0，所述初始信号的电压大于等于所述发光单元的最小工作电压。

3.根据权利要求1所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述电源信号调节单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的控制端与重置信号端子连接，所述第一晶体管的输入端与第一电源信号端子连接，所述第一晶体管的输出端与所述存储电容的第一极板连接；

所述数据信号调节单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的控制端与扫描信号端子连接，所述第二晶体管的输入端与数据信号端子连接，所述第二晶体管的输出端与所述存储电容的第一极板连接。

4.根据权利要求1所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述第一初始信号调节单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的控制端与重置信号端子连接，所述第三晶体管的输入端与初始信号端子连接，所述第三晶体管的输出端与所述存储电容的第二极板连接。

5.根据权利要求1所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述第二初始信号调节单元包括第四晶体管，所述第四晶体管的控制端与扫描信号端子连接，所述第四晶体管的输入端与初始信号端子连接，所述第四晶体管的输出端与发光单元连接。

6.根据权利要求1所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述发光器件缺陷检测电路还包括：所述存储电容的第一极板还连接参考信号调节单元，所述第一初始信号调节单元与所述发光单元之间通过开关器件连接；

所述同一时刻，所述参考信号调节单元用于在发光信号的控制下关断，不会向所述存储电容的第一极板提供参考信号，所述开关器件用于在发光信号的作用下关断。

7.根据权利要求6所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述开关器件的控制端与发光信号端子连接，所述开关器件的输入端还连接所述驱动晶体管的输出端，所述开关器件的输出端与所述发光单元连接。

8.根据权利要求6所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述发光器件缺陷检测电路还包括第五晶体管；

所述第五晶体管的控制端与扫描信号端子连接，所述第五晶体管的输入端分别与所述存储电容的第二极板和所述第一初始信号调节单元的输出端连接，所述第五晶体管的输出端分别与所述驱动晶体管的输出端和所述开关器件的输入端连接；所述同一时刻，所述第五晶体管用于在扫描信号的作用下导通。

9.根据权利要求6所述的发光器件缺陷检测电路，其特征在于，所述参考信号调节单元包括第六晶体管，所述第六晶体管的控制端与发光信号端子连接，所述第六晶体管的输入端与参考信号端子连接，所述第六晶体管的输出端与所述存储电容的第一极板连接。