[发明专利]一种半圆孔检具及半圆孔尺寸测量方法

权利要求书

1.一种半圆孔检具，其特征在于：包括设置有上部支撑体的设备底座（1）；设备底座（1）上设置有对待测半圆孔零件进行定位和紧固的定位装置（2）和紧固装置（3）；设备底座（1）的上部支撑体上铰接有导套（4）和沿导套滑动的导柱（5）；导柱（5）的伸缩端连接有表头垂直导柱（5）中心轴线的千分表（6）；设备底座（1）的上部支撑体通过螺钉紧固连接有对表块（7），所述对表块（7）设置有圆心在导柱（5）中心轴线上的圆弧面；

所述定位装置（2）包括两个通过螺栓固定在设备底座（1）上的带有平整的上表面的定位台，两个定位台中部设置有凸起固定在设备底座（1）上的顶柱I（21）和顶柱II（22）；顶柱I（21）凸起端为菱形销，顶柱II（22）凸起端为圆柱体；顶柱I（21）与顶柱II（22）之间的直线距离为固定值，且与设备底座（1）的上部支撑体平行；

所述紧固装置（3）包括连接在设备底座（1）上的长螺栓（31），穿接在长螺栓（31）底部的弹簧（32），开设有穿接孔并穿接在长螺栓（31）上的压片（33）和与长螺栓（31）配合将压片（33）紧固的蝶形螺母（34）；所述压片（33）的一端压在待测半圆孔零件上，另一端压在底座上的顶柱III（35）上；

所述压片（33）的穿接孔为由压片（33）中心向待测半圆孔零件一端延伸的连接长孔，所述压片（33）底部设置有与连接长孔在同一直线上的滑槽，所述滑槽由压片（33）中心向顶柱III（35）方向延伸。

2.根据权利要求1所述的一种半圆孔检具，其特征在于：所述导套（4）铰接在设备底座（1）的上部支撑体上，其首端截面与设备底座（1）的上部支撑体面对定位装置（2）和紧固装置（3）一面平齐，其末端伸出设备底座（1）的上部支撑体另一面的部分设置有豁口槽；所述导柱（5）套装在导套（4）内，配合间隙0.005mm-0.015mm；导柱（5）的末端装有一个凸起的销柱（51），销柱（51）套装在导套（4）末端的豁口槽形成的轨道上。

3.根据权利要求1所述的一种半圆孔检具，其特征在于：所述导柱（5）的伸缩端装有表套（8），所述表套（8）为有两个相互垂直截面的金属块，每个截面有一个过孔，分别用于套接导柱（5）的伸缩端和千分表（6）的表杆，每个过孔圆周上通过螺钉孔穿接有紧固螺钉。

4.一种半圆孔尺寸的测量方法，其特征在于：使用权利要求3中所述的一种半圆孔检具，所述方法包括的步骤具体为，

a）、装配，将千分表装入表套，并拧上紧固螺钉；

b）、校零，将千分表的表头与对表件圆弧面贴合，调整千分表的压量，使千分表的表针正好指示在量程的中间位置，拧紧表套上的紧固螺钉；

c）、测量，推动并转动导套内的导柱，使千分表表头与待测半圆孔零件的圆弧面贴合，读取千分表表针示数。