[发明专利]一种改进的伪四线测试方法及其测试结构有效
| 申请号： | 201810050675.5 | 申请日： | 2018-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN108254672B | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 王磊 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 改进 伪四线 测试 方法 及其 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种改进的伪四线测试方法，其特征在于，包括下列步骤：
在测试设备输入端分别接入DPS电源高位激励端和测试通道输入端；
获取测试设备输出端的负载电流测试数据和建立时间数据；
获取测试设备输出端的输出电压数据，其中，所述测试设备连接有接地的低位激励端和接地的低位测量端。
2.根据权利要求1所述的改进的伪四线测试方法，其特征在于，所述测试设备为稳压器。
3.一种改进的伪四线测试结构，其特征在于，包括：
DPS电源高位激励端，连接于测试设备的输入端；
测试通道输入端，连接于测试设备的输入端；
负载电流测试数据和建立时间数据测试接口，连接于所述测试设备的输出端；
输出电压数据测试接口，连接于所述测试设备的输出端，其中，所述测试设备连接有接地的低位激励端和接地的低位测量端。
4.根据权利要求3所述的改进的伪四线测试结构，其特征在于，所述测试设备为稳压器。
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