[发明专利]系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种系统内存边缘测试方法系统设备及可读存储介质，其中，该方法包括：获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；通过预设串口输出所述测试结果。可见，本发明通过计算机程序或系统自动进行系统内存边缘的测试，与现有技术中，系统内存边缘的测试的每个步骤需要人工开启相比，大幅度提高了生产效率，对于服务器大规模生产具有重要的使用价值。

技术领域

本发明涉及服务器生产领域，特别涉及一种系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质。

背景技术

内存边缘测试，是一种通过不同算法的读写操作来检验主板与内存兼容性的测试方法，是X86平台上设计过程中必须要做的一项测试。通常情况下这种测试仅限用于设计阶段的测试，由测试人员手动开启此功能，并通过串口工具完成测试结果收集，最后使用结果解析工具完成结果检验。此测试是一种极限测试，找出内存兼容性设计上的不足，根据测试结果完成设计优化，对保障产品质量起到非常重要的作用。

基于以上所述，现有技术的内存边缘测试仅用于设计测试阶段，依靠人工进行少数样品测试的方法执行效率上也是非常低的，更不能适用于大批量的内存边缘测试；总起来说，利用人工进行内存边缘测试生产效率很低。

因此，如何提高内存边缘测试的生产效率是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质，提高内存边缘测试的生产效率。其具体方案如下：

一种系统内存边缘测试方法，包括：

获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；

根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；

通过预设串口输出所述测试结果。

优选的，所述预设条件包括预设电压。

优选的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：

根据所述目标指令，调用边缘测试程序；

当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；

比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果。

优选的，所述预设条件包括预设内存延时值。

优选的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：

根据所述目标指令，调用边缘测试程序；

当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；

比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果。

优选的，所述通过预设串口输出所述测试结果的过程包括：

通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC。

优选的，所述通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC的过程包括：

通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC，并以预设格式的文件保存。

相应的，本发明还提供了一种系统内存边缘测试系统，包括：

指令获取模块，用于获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；

测试模块，用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；