[发明专利]系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种系统内存边缘测试方法，其特征在于，包括：

获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；

根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；

通过预设串口输出所述测试结果；

其中，若所述预设条件包括预设电压；

对应的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：

根据所述目标指令，调用边缘测试程序；

当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；

比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果；

若所述预设条件包括预设内存延时值；

对应的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：

根据所述目标指令，调用边缘测试程序；

当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；

比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果。

2.根据权利要求1所述的系统内存边缘测试方法，其特征在于，所述通过预设串口输出所述测试结果的过程包括：

通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC。

3.根据权利要求2所述的系统内存边缘测试方法，其特征在于，所述通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC的过程包括：

通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC，并以预设格式的文件保存。

4.一种系统内存边缘测试系统，其特征在于，包括：

指令获取模块，用于获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；

测试模块，用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；

其中，若所述预设条件包括预设电压；

对应的，所述测试模块用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果；

若所述预设条件包括预设内存延时值；

对应的，所述测试模块用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果；

结果输出模块，用于通过预设串口输出所述测试结果。

5.一种系统内存边缘测试设备，其特征在于，所述系统内存边缘测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的系统内存边缘测试程序，所述系统内存边缘测试程序配置为实现如权利要求1或2所述的系统内存边缘测试方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有单芯片系统内存边缘测试程序，所述系统内存边缘测试程序被处理器执行时实现如权利要求1或2所述的系统内存边缘测试方法的步骤。