[发明专利]高精度幅宽自动化测量装置

说明书

本发明属于光学检测领域，尤其涉及玻璃及光学膜产业用高精度幅宽自动化测量装置，包括机架以及设置在机架上的测量平台、测量模组、X轴位移模组、控制模组，使用时将待测样品放置在测量平台中，控制模组控制X轴位移模组带动测量模组进行X轴方向位移，测量模组在X轴方向位移过程中完成对测量平台中待测样品的幅宽测量，测量过程不必与待测样品接触，不会对待测样品表面造成划损，能够有效提高玻璃及光学膜等待测样品的品质及使用性能，本发明可以实时得到精确的测量结果，自动化程度高，省时省力，人工成本低，节省大量人力物力，测量效率高，能够有效避免传统方式因人工测量导致的测量结果数据一致性差的缺陷，测量精度高，应用前景广阔。

技术领域

本发明属于光学检测领域，尤其涉及玻璃及光学膜产业用高精度幅宽自动化测量装置。

背景技术

众所周知，在光学行业中，玻璃制品及光学膜产品在光学产品中占据着很高的比例，在玻璃制品及光学膜产品的加工制造过程中，对玻璃制品及光学膜产品的幅宽指标进行控制是至关重要的一步。随着科学技术和工业生产的高速发展，人们对测量要求也越来越高，并开始向着高速、高精度、小型化、智能化等方面发展，尤其是在科技高速发展的今天，对零件尺寸测量精度要求越来越高。

在人类的日常生活中，测量占据了举足轻重的地位。在传统测量领域里，玻璃制品及光学膜产品的幅宽测量是在线下另行完成的，且以卷尺、钢尺等接触式测量为主，这种检测方式主要存在以下几种缺陷：（1）检测过程需要耗费大量人力物力，人工成本高，费时费力，检测效率低，无法进行快速在线测量，更无法根据在线测量结果对玻璃及光学膜进行实时监控和调整，不能满足现代社会规模化生产要求；（2）检测精度低，测量数据对制程的反馈严重滞后，不利于玻璃及光学膜产品品质的提升，而且传统的测量方式常常由于测量者不同得到的结果也不一样，测量结果的一致性很差，导致玻璃及光学膜的质量不稳定；（3）检测范围有限，对于大尺寸的玻璃及光学膜的幅宽测量，难以通过卷尺、钢尺等传统检测方式获得高精度的测量结果；（4）由于传统检测方式主要是通过接触式测量，检测过程中容易对玻璃及光学膜等待检样品表面造成划损，影响玻璃及光学膜的使用性能。

发明内容

本发明的目的是解决上述现有技术的不足，提供一种测量效率高、测量范围广、测量精度高、省时省力且不会对待测样品造成划损的高精度幅宽自动化测量装置。

本发明解决上述现有技术的不足所采用的技术方案是：

一种高精度幅宽自动化测量装置，其特征在于，包括：

机架，用于承载设置在其上的模组，所述机架上方设有测量平台，所述测量平台上供承载待测样品；

测量模组，架设在所述机架上方，用于对测量平台中的待测样品进行幅宽测量；

X轴位移模组，设置在所述机架两侧，用于驱动所述测量模组进行X轴方向位移；

控制模组，分别与所述测量模组、X轴位移模组电性连接。

优选的，本发明中所述测量模组是在所述测量平台上方架设有测量架，所述测量架上设有Y轴运动机构，所述Y轴运动机构上设有能够在所述Y轴运动机构的驱动下进行Y轴方向位移的取像元件，所述取像元件用于对所述测量平台中的待测样品图像进行采集。通过利用取像元件对待测样品进行图像采集，避免测量过程中与待测样品接触对待测样品表面造成划损，能够有效提高玻璃及光学膜等待测样品的品质及使用性能，由于取像元件可以在Y轴运动机构的驱动下进行Y轴方向位移，因而可以适用于任意尺寸的待测样品，应用范围广。

优选的，本发明中所述Y轴运动机构设置有两个，且两个所述Y轴运动机构相接设置在所述测量架上。通过相接设置两个Y轴运动机构分别带动两个取像元件进行Y轴方向移动，可以方便快捷的同时采集待测样品的幅宽图像，提高测量精度和测量效率。