[发明专利]一种测量小型断路器动作温度的方法

说明书

本发明提出一种测量小型断路器动作温度的方法，通过建立双金属片的热平衡关系，将小型断路器置于冷态模式下，获取此时的双金属片的温升关系式，将小型断路器置于基准环境温度30℃下，对小型断路器通标准试验电流，获取此时的动作温升，将小型断路器置于环境温度为θ_环时，对小型断路器通等效试验电流，获取此时的温升，接着获取脱扣等效时间t与动作温度θ_d的线性关系，待测试小型断路器至少两次置于不同温度下重复获取每次的温升，并由线性关系获得小型断路器的临界动作温度θ_d。本发明的有益效果是，间接测量小型断路器的动作温度，方法简便可行、快速准确。

技术领域

本发明涉及一种测量小型断路器动作温度的方法。

背景技术

小型断路器的动作温度是指小型断路器通电时，由于双金属片的发热弯曲推动脱扣机构动作时的温度，作为小型断路器过载保护特性等效校验中的一个关键参数，其测量的准确性起着至关重要的作用。

合格的小型断路器的动作温度应在约定脱扣电流温升曲线的上升区间，产品的动作温度是在生产中通过等效校验来调整的，一个不合格的产品调试成合格品，调的就是动作温度。目前动作温度仍然需要借助传感器来进行测量，常用的传感器有热电偶和红外热像仪。热电偶直接与双金属片接触进行测量，虽然结果比较准确，但由于需要与双金属片直接接触，改变了小型断路器内部的温度场，而且当双金属片温度升高时，热电偶的固定问题很难解决；红外热像仪因为是非接触式测量，不会改变小型断路器的封闭环境，但存在热滞后问题，传感器感受的温度从一个值变化到另一个值时，传感器的输出要经过一段时间才能对应于另一值的输出值。不管采用哪种传感器，只要对动作温度进行测量，都会受到周围环境波动的影响，测量结果存在误差。

发明内容

本发明的目的是提供一种测量小型断路器动作温度的方法，间接测量小型断路器的动作温度，简单有效。

一种测量小型断路器动作温度的方法，该方法包括如下步骤：步骤一：建立双金属片的热平衡关系：Pdt＝cmdτ+K_TAdt；式中：Pdt—在dt时间内双金属总的发热量cmdτ—双金属片的蓄热量；c—比热容；m—双金属片的质量；dτ—dt时间内升的变化值；K_TAdt—在dt时间内双金属片总的散热量；K_T—综合散热系数；A—散热表面积；τ—温升；步骤二：将小型断路器置于冷态模式下，获取此时的双金属片的温升关系式：τ＝τ_w(1-e^-t/T)；式中：t—通电时间；T—双金属片的热时间常数；τ_w—稳定温升；步骤三：将小型断路器置于基准环境温度30℃下，对小型断路器通标准试验电流I_标，获取此时的动作温升：式中，R为双金属片的阻值；步骤四：将小型断路器置于环境温度为θ_环时，对小型断路器通等效试验电流I_等，获取此时的温升步骤五：根据步骤三和步骤四，获取脱扣等效时间t与动作温度θ_d的线性关系：步骤六：待测试小型断路器至少两次置于不同温度下重复步骤四，并获取每次的温升，并由步骤五中的线性关系便可获得小型断路器的临界动作温度θ_d。

所述步骤二所述的冷态模式为当t＝0，τ＝0时。

所述步骤四的温升要当小型断路器动作时双金属片的表面温升达到稳定状态时获取。

所述步骤四中的等效试验电流I_等为3至4倍额定电流。

所述步骤六中，重复步骤五时对待测试断路器通的等效试验电流I_等相同。

本发明具有的有益效果，间接测量小型断路器的动作温度，方法简便可行、快速准确。

附图说明

图1为本发明热双金属片的温升曲线。