[发明专利]规定浓度水的供给方法及装置在审
| 申请号: | 201780082842.8 | 申请日: | 2017-09-15 |
| 公开(公告)号: | CN110167661A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
| 发明(设计)人: | 饭野秀章 | 申请(专利权)人: | 栗田工业株式会社 |
| 主分类号: | B01F3/08 | 分类号: | B01F3/08;B01F15/04;B01J4/02;H01L21/304 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 陈曦;向勇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超纯水 混合液 导电性 非导电性 导电率 电阻率 水中 制备 制造 | ||
一种规定浓度水的供给方法及装置,该规定浓度水的供给方法是在超纯水中添加导电性的第1液及非导电性的第2液至少2种液体来制造含有规定浓度的第1液成分及第2液成分的规定浓度水的工序,在所述规定浓度水的供给方法中,事先制备将所述第1液与第2液预先以规定混合比混合而成的混合液,将该混合液添加至超纯水,以使添加后的超纯水的导电率或电阻率成为规定值。
技术领域
本发明涉及用来供给规定浓度的水的方法及装置,特别涉及将导电性的第1液与非导电性的第2液混合并添加至超纯水来制备、供给规定浓度的水的规定浓度水的供给方法及装置。
更详细而言,本发明涉及适于供给在半导体用晶片的洗涤、清洗(rinse)工序中有效的且含有碱、氧化剂等极低浓度的溶质的洗涤水的方法及装置。
背景技术
在半导体用硅晶片等的洗涤及清洗工序中,有时会使用将对pH、氧化还原电位的控制有效的溶质以极低浓度溶解而成的水(在此称为稀洗涤水)。以超纯水为基本材料,为了使其具备符合洗涤、清洗等工序的目的的pH、氧化还原电位等液体特性,会添加必要最小限度的酸、碱、氧化剂、还原剂。有使H2、NH3、O3这些还原性、碱性、酸性的气体溶解于超纯水的方法,但微量添加药液(注药)的方法也简便,被加以有效利用。
作为注药的方法,有使用泵的方法、使用基于密闭容器与N2等非活性气体进行的加压的方法,已各自实用化。
稀洗涤水的供给中,为使溶质浓度落在期望范围,进行接收浓度监控器的信号的PID控制、对超纯水流量的比例控制等基于各式各样的方法的溶解控制。作为在半导体的洗涤工序中大多使用的药液的一种,可举出H2O2,即使在洗涤机中使用的流量有变动的情况下,仍始终要求严格的浓度控制。但是,不是将H2O2单独用于洗涤,而是多和酸、碱等药液混合使用。
作为测定H2O2的浓度的方法,使用比色滴定的方法为主流,作为在线(online)监控的方法,有由平沼产业(股)销售的“Process Titrator AHP310”。此外有由Aero LaserGmbH销售的同样运用了吸光亮度的“AL2021”。但该些方法中,为了测定必须使用规定的试剂,试剂管理及调整会变得繁杂。
在日本特开2012-63303号公报中,记载有通过使水中的过氧化氢分解,测定溶解氧的浓度,从而不使用试剂而将H2O2浓度定量,但需要脱气装置从而装置会变得繁杂,并且会依赖DO计的灵敏度,因此存在不能正确地测定低浓度域的问题。
如此地,对现有的方法而言,在洗涤机中使用的流量有变动的情况下,不能始终进行严格的浓度控制。此外,不能充分进行ppb水平的PID控制,从而不能进行微量浓度域的控制。其结果,浇注于晶片的洗涤水、清洗水的液质停留在与理想值相距甚远的广范围内的控制。
虽然也有以液质稳定化为优先,事先以规定的条件制造稀洗涤水,并进行贮藏,从贮藏槽持续供给的单纯方法,但在此情况下,必须将大规模的贮水槽设置于制造晶片的无尘室内的洗涤机附近,因而不切实际。
专利文献1:日本特开2012-63303号公报。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种将导电性的第1液与非导电性的第2液以规定浓度添加至超纯水从而有效率地制造、供给规定浓度水的规定浓度水的供给方法及装置。本发明在其中的一个方式中,目的在于提供一种能够有效率地制造、供给以规定浓度含有H2O2的稀洗涤水的规定浓度水的供给方法及装置。
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