[发明专利]继电器熔接检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 201780081922.1 | 申请日： | 2017-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN110140056B | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 金范烈 | 申请（专利权）人： | LS产电株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R19/22;G01R19/10;B60L50/50 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 吴昌教;崔炳哲 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 继电器 熔接 检测 装置 方法 | ||
1.一种继电器熔接检测装置，其中，包括：
第一ADC，测量继电器输入端的电压；
第二ADC，测量继电器输出端的电压；以及
CPU，对所述继电器输入端的电压和所述继电器输出端的电压进行比较，来判断是否熔接，
在充电器对应于充电待机状态、充电完成状态、错误状态中的任一个状态的情况下，
如果所述继电器输入端的电压与所述继电器输出端的电压相同，则所述CPU判断为已发生熔接，
如果所述继电器输入端的电压与所述继电器输出端的电压不同，则所述CPU判断为未发生熔接，
还包括电压下降单元，所述电压下降单元改变所述继电器输入端的电压和所述继电器输出端的电压以使所述继电器输入端的电压和所述继电器输出端的电压匹配至所述第一ADC和所述第二ADC的规格，
所述电压下降单元由与所述继电器输入端和所述继电器输出端分别串联连接的第一电阻和与所述继电器输入端和施加有参考电压的地点分别连接以及与所述继电器输出端和施加有参考电压的地点分别连接的第二电阻构成。
2.根据权利要求1所述的继电器熔接检测装置，其中，
所述电压下降单元由多个电阻构成。
3.根据权利要求1所述的继电器熔接检测装置，其中，
所述继电器输入端构成为多个，并连接到所述第一ADC，以将模拟形式的多个所述继电器输入端的电压分别输出到所述第一ADC，
所述继电器输出端构成为多个，并连接到所述第二ADC，以将模拟形式的多个所述继电器输出端的电压分别输出到所述第二ADC。
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