[发明专利]用于温度计的现场校准的方法

说明书

本发明涉及一种用于温度计(1)的现场校准和/或验证的方法，温度计(1)具有至少一个温度传感器(7)和至少一个基准元件(8)，基准元件(8)至少部分地由下述材料组成，对于该材料至少一个相变在与温度计(1)的使用相关的温度范围内的至少一个预定义相变温度(T_ph)下发生，在相变期间，材料保持在固相。本发明还涉及一种用于执行方法的装置。方法包括以下步骤：检测和/或记录由温度传感器(7)获得的至少一个测量值(T_m)，尤其是随时间而变(T_m(t))；检测和/或记录基准元件(8)的至少一个特征物理或者化学基准变量(G)，尤其是随时间而变(G(t))；使用基准变量(G)的变化尤其是突然变化检测相变的发生；建立发生相变的相变时间点(t_ph)；从由温度传感器(7)在与相变时间点(t_ph)有最短时间间隔的测量时间点(t_m)获得的测量值确定传感器温度(T_m)；以及将传感器温度(T_m)与相变温度(T_ph)进行比较和/或确定可能存在于传感器温度(T_m)与相变温度(T_ph)之间的偏差(ΔT)。

技术领域

本发明涉及一种用于温度计的现场校准和/或验证的方法，该温度计具有至少一个温度传感器和至少一个基准元件，该基准元件至少部分地由下述材料组成，在该材料的情况下，至少一个相变在与温度计的操作相关的温度范围内的至少一个预定相变温度下发生，其中，在相变期间材料保持在固相。

背景技术

温度计在最多样化的实施例中是可用的。因此，存在这样的温度计，该温度计用于测量温度，具有已知膨胀系数的液体、气体或者固体的膨胀，或者因此，使材料的电导率与温度相关，诸如，例如，在应用电阻元件或者热电偶的情况下。相反，在辐射温度计尤其是高温计的情况下，确定物质的温度利用了其辐射。这些温度计中的每个温度计的基本测量原理都已经在大量出版物中被描述并且因此在本文中未被详述。

温度计的校准和/或验证通常在校准槽、干燥箱或者定点系统中执行。这通常是基于比较液体与已知基准温度的比较测量来完成的，即，在固定特征温度点，诸如，例如，材料的三相点和/或熔点。可替代地，校准和/或验证还可以通过例如包括白金元件的基准温度计来执行，优选地基于国际标准ITS-90。

应用的典型的比较液体常常是杜瓦容器中的去离子冰水。此外，该特征温度点常常用于按照国际标准IEC6075，诸如，例如，用于所谓的Pt100元件，确定白金元件形式的电阻式温度传感器(电阻式温度检测器的RTD元件)的所谓的R₀值(T＝0℃下的R)。

通常，为了执行比较测量，从使用了温度计的过程去除温度计。然而，还存在实现体温计的现场校准和/或验证的已知设备，诸如，例如，集成在温度计中的描述于DE19941731 A1中的微型定点电池。

温度计的校准和/或验证的另一个机会是考虑特定温度计的某个特征温度点或者特征线或者曲线。因此，例如，EP1247268B2中描述了一种用于基于二级温度传感器形式的一个或者多个基准元件的特征线或者曲线的多个集成温度传感器的现场校准的方法，该基准元件安装在温度计插入物中，作为主温度传感器的补充。为了校准可以发生，所使用的基准元件在构造和/或所使用的材料方面与主温度传感器不同，这会导致不同的特征曲线。然而，在这种情况下的缺点是，基准元件的特征线或者曲线通常受到老化影响和/或传感器漂移。