[发明专利]用于温度计的现场校准的方法

权利要求书

1.一种用于温度计(1)的现场校准和/或验证的方法，所述温度计(1)具有至少一个温度传感器(7)和至少一个基准元件(8)，所述基准元件(8)至少部分地由下述材料组成，在所述材料的情况下，至少一个相变在与所述温度计(1)的操作相关的温度范围内的至少一个预定相变温度(T_ph)下发生，其中，在所述相变期间所述材料保持在固相,

所述方法包括以下方法步骤：

-检测和/或记录由所述温度传感器(7)获得的至少一个测量值(T_m)，

-检测和/或记录所述基准元件(8)的至少一个特征物理或者化学基准变量(G)，

-基于所述特征物理或者化学基准变量(G)的变化，检测所述相变的发生，

-确定发生所述相变的相变时间点(t_ph)，

-从由所述温度传感器(7)在与所述相变时间点(t_ph)有最短时间间隔的测量时间点(t_m)获得的测量值确定传感器温度(T_m)，以及

-将所述传感器温度(T_m)与所述预定相变温度(T_ph)进行比较和/或确定在给定情况下存在于所述传感器温度(T_m)与所述预定相变温度(T_ph)之间的差异(ΔT)，其中，考虑动态热流模型用于确定所述传感器温度(T_m)与所述预定相变温度(T_ph)之间的差异(ΔT)，

其中，所述模型是考虑所述温度计内的、在所述温度传感器处和/或在所述基准元件处的热的非均匀和/或动态运动，和/或考虑由周围温度的变化而产生的散热的影响的模型。

2.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述至少一个测量值(T_m)是随时间而变的测量值(T_m(t))。

3.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述至少一个特征物理或者化学基准变量(G)是随时间而变的基准变量(G(t))。

4.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述特征物理或者化学基准变量(G)的变化是突然变化。

5.根据权利要求1-4中的任一项所述的方法，

其中，所述材料是铁电材料、铁磁材料或者超导材料。

6.根据权利要求1-4中的任一项所述的方法，

其中，所述至少一个特征物理或者化学基准变量(G)是所述材料的晶体结构、体积，或者介电、电气或者磁性特性。

7.根据权利要求1-4中的任一项所述的方法，

其中，所述传感器温度是基于由所述温度传感器(7)在测量时间点(t_m)获得的至少一个测量值与温度传感器特征线或者曲线的比较来获得的。

8.根据权利要求7所述的方法，

其中，所述传感器温度(T_m)与所述预定相变温度(T_ph)之间的差异指示所述温度传感器特征线或者曲线的变化。

9.根据权利要求1所述的方法，

其中，基于所述动态热流模型，确定时间校正值(Δt_dyn)，在此之后，所述基准元件(8)和所述温度传感器(7)达到相同的温度，以及

其中，考虑所述时间校正值(Δt_dyn)用于确定所述传感器温度(T_m)与所述预定相变温度(T_ph)之间的差异(ΔT)。