[发明专利]固态图像拾取元件、其制造方法和电子设备有效

专利信息
申请号: 201780072818.6 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN110024128B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 定荣正大;村田贤一 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H10K30/87;H10K39/32;H04N25/76
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 梁兴龙;曹正建
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 固态 图像 拾取 元件 制造 方法 电子设备
【权利要求书】:

1.一种固态图像拾取元件,包括:

形成在半导体基板的上侧的光电转换膜;

设置在所述光电转换膜下方的多个下部电极,和

密封所述光电转换膜的侧面的侧壁,其中,

所述侧壁包括第一膜,

所述第一膜是第二膜的再沉积膜,

所述第二膜在所述侧壁正下方,并且

所述第二膜位于所述多个下部电极之间。

2.根据权利要求1所述的固态图像拾取元件,还包括:

设置在所述光电转换膜上方的上部电极

其中,所述多个下部电极中的每个下部电极对应于相应的像素,和

所述上部电极的侧面用所述侧壁覆盖。

3.根据权利要求2所述的固态图像拾取元件,

其中,所述上部电极对应于所述相应的像素。

4.根据权利要求1所述的固态图像拾取元件,

其中,所述第二膜包括绝缘膜。

5.根据权利要求1所述的固态图像拾取元件,

其中在所述第二膜包含SiO、SiCO、AlO、AlN、SiN、SiON、SiCN和SiCNO中的任何材料。

6.根据权利要求2所述的固态图像拾取元件,还包括:

在像素阵列单元的外侧的外围电路单元的层中的虚设膜,所述层的深度与包括所述多个下部电极的层相同,所述虚设膜的抛光速率与所述第二膜的抛光速率不同。

7.根据权利要求6所述的固态图像拾取元件,

其中所述虚设膜的抛光速率低于所述第二膜的抛光速率。

8.根据权利要求6所述的固态图像拾取元件,

其中所述虚设膜包含SiN、SiON、SiCO、SiCN、SiCNO、ITO或IZO中的任何材料。

9.根据权利要求6所述的固态图像拾取元件,

其中所述虚设膜的上表面的高度等于或低于所述多个下部电极中的每个下部电极的上表面的高度。

10.一种制造固态图像拾取元件的方法,所述方法包括:

在半导体基板的上侧形成光电转换膜;

设置在所述光电转换膜下方的多个下部电极,和

形成密封所述光电转换膜的侧面的侧壁,其中,

所述侧壁包括第一膜,

所述第一膜是第二膜的再沉积膜,

所述第二膜在所述侧壁正下方,并且

所述第二膜位于所述多个下部电极之间。

11.一种电子设备,包括:

固态图像拾取元件,所述固态图像拾取元件包括:

形成在半导体基板的上侧的光电转换膜;

设置在所述光电转换膜下方的多个下部电极,和

密封所述光电转换膜的侧面的侧壁,其中,

所述侧壁包括第一膜,

所述第一膜是第二膜的再沉积膜,

所述第二膜在所述侧壁正下方,并且

所述第二膜位于所述多个下部电极之间。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼半导体解决方案公司,未经索尼半导体解决方案公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780072818.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top