[发明专利]检查设备和检查方法

说明书

本公开包括一种成像传感器、成像方法和非暂时性计算机可读介质。所述成像传感器包括多个波长检测区域。所述多个波长检测区域至少包括第一波长检测区域。第一波长检测区域包括多个像素，所述多个像素被配置成检测第一预定波长范围内的光，和检测在不同的预定偏振方向的所述光。

技术领域

本公开涉及检查设备、检查方法和程序。特别地，本公开涉及配置成良好地进行期望的检查的检查设备、检查方法和程序。

相关申请的交叉引用

本申请要求2016年8月17日提交的日本专利申请JP 2016-159854的优先权，该申请的整个内容通过引用包含在本文中。

背景技术

标准化差值植被指数(NDVI)一般用作植物的分布状态和活性度指标。

例如，在遥测和精细农业领域的应用中，利用按照借助近红外光分量和红光分量的光谱学对检查对象成像的方式获得的图像，检查农作物的生长状态。或者，利用被配置成以致对于各个像素布置各个偏振滤光器的偏振成像器，从而可以获得具有与偏振方向相应的特性的图像。注意，偏振成像器被配置成以致按照多个偏振方向，分割受光面上的像素，从而生成每个偏振方向的图像。这样，分辨率被降低(例如当使用4个偏振方向时，分辨率降低为1/4)。

例如，专利文献1公开一种成像设备，所述成像设备被配置成以致致动器以像素为单位，偏移包括排列成阵列的偏振器(每个像素的偏振滤光器)的偏振器阵列，以获得多个图像，并通过对这些图像的处理，保持分辨率。

[引文列表]

[专利文献]

[PTL 1]日本专利No.4932978

发明内容

[技术问题]

典型地，已知一种通过拼接在移动时连续获得的多个图像，在宽范围内高分辨率地获得图像的技术(称为“图像拼接”)。然而，难以实现通过拼接多个图像获得宽图像的技术，和利用专利文献1中公开的成像设备来维持分辨率的技术这两者。因此，例如，为了借助标准化差值植被指数较好地检查植被，要求即使在使用偏振成像器时，也高分辨率地获得宽图像。

鉴于上述情况，产生了本公开，本公开意在较好地进行期望的检查。

[问题的解决方案]

按照本公开的一个方面的检查设备对于每个波长范围包括多个检测区域，每个检测区域包括排列成矩阵并被配置成检测同一波长范围的光的多个传感器元件，其中所述多个传感器元件被排列成以致传感器元件中的相邻传感器元件检测不同偏振方向的光，并且被排列成包括与偏振方向的数目对应的传感器元件的集合。

在被配置成对于每个波长范围，包括均具有多个传感器元件的多个检测区域的检查设备中，按照本公开的一个方面的检查方法和程序包括根据由每个传感器元件检测的检测值，进行生成对于比每次可检测的范围大的范围获得的图像的信号处理，其中所述多个传感器元件被排列成矩阵，并被配置成检测同一波长范围的光，并被配置成以致所述多个传感器元件被排列成以致传感器元件中的相邻传感器元件检测不同偏振方向的光，并且被排列成包括与偏振方向的数目对应的传感器元件的集合。

在本公开的一个方面中，对于每个波长范围，包括多个检测区域，每个检测区域包括排列成矩阵并被配置成检测同一波长范围的光的多个传感器元件，以及所述多个传感器元件被排列成以致传感器元件中的相邻传感器元件检测不同偏振方向的光，并且被排列成包括与偏振方向的数目对应的传感器元件的集合。此外，根据由每个传感器元件检测的检测值，进行生成对于比每次可检测的范围大的范围获得的图像的信号处理。

本公开的另一个方面是一种包括多个波长检测区域的成像传感器。所述多个波长检测区域至少包括第一波长检测区域。第一波长检测区域包括配置成检测第一预定波长范围内的光，和检测在不同的预定偏振方向的所述光的多个像素。