[发明专利]具有辐射源的检查系统和方法

说明书

在示例中，公开了一种检查系统，包括：次级辐射源，其被配置为响应于被来自初级电磁辐射发生器的初级电磁辐射照射而产生用于检查负载的次级电磁辐射；和一个或多个检测器，其被配置为在与次级检查束相互作用之后检测来自负载的辐射。

技术领域

本公开涉及但不限于使用辐射源检查负载的系统和方法。

背景技术

检查系统使用通过负载(例如车辆)传输的检查辐射来检查负载的货物，例如以检测隐藏的物体(例如武器或危险材料)。

然而，放置在对辐射不透明的材料的透射线上的物体或者最终在图像上看起来暗的材料的物体难以通过透射在视野上检测到。

本发明的各方面解决了一些上述问题。

发明内容

本发明的各方面和实施方式在所附权利要求中阐述。这里还描述了本发明的这些和其他方面和实施方式。

附图说明

现在将参照附图仅以示例的方式描述本公开的实施方式，其中：

图1以正视图示出了示例检查系统；

图2以透视图示出了示例装置中的示例检查系统；

图3示出了初级主检测方向和次级主检测方向之间的角度；

图4以正视图示出了示例装置中的示例检查系统；

图5以正视图示出了示例装置中的示例检查系统；

图6A示意性地示出了来自不同次级源的散射束的能量分布，所述次级源具有不同的材料，例如聚甲基丙烯酸甲酯PMMA(a)，铝(b)，钢(c)和铅(d)；

图6B示意性地示出了针对不同初级辐射能量(例如，2MeV(a)，3MeV(b1)，4MeV(b2)和5MeV(b3)以及6MeV(d))的来自具有PMMA的次级源的散射束的能量分布；

图7示出了用于检查负载的示例方法的流程图；和

图8A和图8B示出了利用本公开的任何方面的系统获得的图像的示例。

在附图中，相同的元件用相同的参考数字表示。

具体实施方式

概述

本公开的实施方式涉及用于检查负载的系统。该系统包括至少一个辐射源，其响应于被电磁辐射照射而发射电磁辐射。由辐射源发射的电磁辐射可以被准直以检查负载，并且检测器在与负载相互作用之后检测辐射。

所述系统可以用在包括至少一个发生器的装置中，该发生器被配置为产生用于照射源的电磁辐射，因此辐射源作为发生器产生的辐射的目标。在一些示例中，由发生器产生的电磁辐射也可以用于检查负载和/或另一负载。在一些示例中，装置可以包括多个系统，所述多个系统包括源和一个或多个检测器，使得在一些示例中，单个发生器(一些发生器可能很昂贵)可以照射多个源。在一些示例中，多个发生器可以照射单个源。

在一些示例中，可以使用一个或多个系统和例如相同的电磁辐射发生器获得一个或多个负载的多个视图。可以检测隐藏的对象。在使用单个发生器的示例中，可以降低装置的成本，因为相同的发生器用于多个视图。

取决于期望的视图，一个或多个系统可以放置在装置中的不同给定位置。

取决于期望的视图，至少一个辐射发生器可以放置在装置中的不同给定位置。

示例性实施方式的详细描述

如图所示，可以参考标准正交参考OXYZ对系统进行描述，轴OZ是垂直向上的，平面YOZ是垂直的，平面XOY是水平的，平面XOZ是垂直的。

在图1的示例中，检查系统100包括至少一个次级辐射源2。