[发明专利]具有辐射源的检查系统和方法

权利要求书

1.一种检查系统，包括：

至少一个次级辐射源，所述次级辐射源被配置为发射次级电磁辐射，以用于借助传输所述次级电磁辐射通过负载来检查所述负载，所述次级辐射源被配置为响应于被来自至少一个初级发生器的初级电磁辐射照射而产生所述次级电磁辐射；

准直器，所述准直器被配置为将所述次级电磁辐射准直成次级检查束，所述次级检查束被配置为照射所述负载；以及

一个或多个检测器，所述检测器被配置为在与所述次级检查束相互作用之后检测来自所述负载的辐射，

其中所述准直器由主准直方向限定，使得所述准直器被配置为将所述次级电磁辐射准直成由平行于所述主准直方向的射线的主传播方向限定的束，

所述一个或多个检测器还包括：一个或多个检测器准直器，每个检测器准直器与相应的检测器相关联，

其中每个检测器准直器由与所述准直器的所述主准直方向平行的主准直方向限定。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述次级辐射源包括：用于形成光锥和/或扇形束的初级电磁辐射束的靶。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述准直器被配置为将所述次级电磁辐射准直成扇形束和/或光锥。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，包括屏蔽物，所述屏蔽物被配置为抑制来自所述初级发生器的辐射到达所述一个或多个检测器。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述次级辐射源包括：一个或多个散射元件，每个散射元件被配置为限定散射厚度和/或由散射材料限定。

6.根据权利要求5所述的系统，其中当所述次级辐射源包括多个元件时，至少一个散射元件的散射厚度和/或散射材料与所述次级辐射源的一个或多个其他散射元件的散射厚度和/或散射材料不同。

7.根据权利要求5或6所述的系统，其中一个或多个散射元件包括含有以下中的至少一者的散射材料：聚甲基丙烯酸甲酯、铝、钢、铅、或气体。

8.根据权利要求1所述的系统，其中所述次级辐射源在所述一个或多个检测器上限定投影区域。

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述次级辐射源可相对于所述一个或多个检测器移动，以控制所述投影区域的范围。

10.根据权利要求1所述的系统，其中所述次级辐射源被配置为响应于被初级电磁辐射照射而产生电离的次级电磁辐射。

11.根据权利要求9或10所述的系统，其中所述次级电磁辐射和/或所述初级电磁辐射包括：X射线辐射和/或γ射线辐射和/或中子辐射。

12.一种装置，包括：

至少一个根据权利要求1至11中任一项所述的检查系统；以及

至少一个初级发生器。

13.根据权利要求12所述的装置，其中所述初级发生器被配置为产生初级电磁辐射束，以用于照射所述次级辐射源。

14.根据权利要求13所述的装置，其中所述初级发生器包括：准直器，所述准直器用于准直所述初级电磁辐射束以照射所述次级辐射源。

15.根据权利要求13所述的装置，其中所述初级发生器被配置为产生形成光锥或扇形束的所述初级电磁辐射束。

16.根据权利要求12所述的装置，其中所述初级发生器还被配置为产生初级电磁辐射的检查束，以用于照射待检查的一个或多个负载。

17.根据权利要求16所述的装置，其中所述次级电磁辐射用于照射待检查的一个或多个负载。