[发明专利]电解质组成分析的方法和装置

权利要求书

1.一种用于熔融电解质组成分析的装置，所述装置包括：

包含其中安置有参比材料的隔室和至少一个含有电解质样品的容器的金属体，其中使用α-改性氧化铝作为所述参比材料；

至少两个温度传感器，其中一个的末端浸入所述参比材料并完全被刚玉盖包封，且另一个温度传感器的末端浸入所述电解质样品中；

数据处理系统，其经配置从参比材料和电解质样品的温度传感器收集数据，基于所收到的数据进一步计算和绘制热曲线和差热曲线，确定热曲线和差热曲线上的相转变温度，并在所确定的相转变温度基础上计算所述电解质样品的组成。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述金属体包括一个至四个具有相应数量的温度传感器的电解质采样容器，其中如果所述容器的数量多于一个，则它们被置于所述参比材料的隔室的不同侧。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，使用热电偶作为温度传感器。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置包括金属保护管，所述金属保护管围绕所述参比材料隔室的外围与所述金属体刚性连接，其中，用于将直接浸入所述电解质采样容器中的所述温度传感器的保持器和固定部件被安置在所述金属保护管上。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，电解质温度传感器被安置在与所述金属体刚性连接的金属管内，其中所述金属管通过在所述金属体中制成的通道连接到所述电解质采样容器，以使所述温度传感器能够浸入所述电解质采样容器中。

6.一种用于熔融电解质组成分析的方法，其包括：

将装置浸入熔融电解质中，其中所述装置包括包含参比材料的隔室和至少一个容器，该容器在所述装置浸入时被熔融电解质填充；

将所述装置保持在所述熔融电解质中直至电解质样品和参比材料的温度基于温度传感器的读数变得等同；

从所述熔融电解质中移出具有至少一个填充有熔融电解质的容器的所述装置，并将该装置冷却至低于电解质样品的固相线温度的温度；

使用数据处理系统记录参比材料和电解质样品冷却的时间依赖性，绘制电解质温度对于冷却时间的依赖的热曲线以及电解质与参比材料的温度差对于时间的依赖的差热曲线；

使用数据处理系统确定热曲线上的相的结晶温度和差热曲线上的对应峰；相结晶温度基于差热曲线的直线部分开始端在热曲线上的投影来确定；

使用数据处理系统确定相峰的高度和/或面积和/或相峰的半宽度，基于至少对一个相峰参数的预先确定的校准依赖性来确定电解质中的相的浓度；

使用数据处理系统确定液相线温度和电解质过热度，确定固体电解质样品的包括在电解质样品中的含量不少于3重量％的所有结晶相在内的相和成分组成。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在所述熔融电解质表面上的结壳上方冷却所述装置。